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公开(公告)号：CN118041389A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202311698015.5
申请日：2023-12-12
Applicant: 中国电子科技集团有限公司电子科学研究院 , 北京理工大学
IPC: H04B1/44
Abstract: 本发明提出了一种实时动态无缝射频调度控制平台及方法，该控制平台包括调度模块，配置为驻留至少两组不同的组合转发逻辑，切换控制模块，控制所述调度模块的不同的所述组合转发逻辑的输出和切换；不同的所述组合转发逻辑的调度结果交替输出。该调度方法包括如下步骤：确定逻辑功能，调度主模块块驻留不同的组合转发逻辑；配置切换控制模块，当接收到调度指令后，调度模块执行不同的调度逻辑重写，输出的调度结果不变，当接收到切换输出指令后，输出某一重写的调度结果，同时重写另一组合转发逻辑，通过交替式输出方式，实现无缝调度，有效解决了调度射频设备可能导致信号瞬间中断的难题。
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公开(公告)号：CN119439084A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411541873.3
申请日：2024-10-31
Applicant: 中国电子科技集团有限公司电子科学研究院 , 西安电子科技大学
Abstract: 本发明提出了一种机载雷达外场阵面诊断测量系统及方法，该系统包括支撑机构和设置于载具上的移动方舱；移动方舱内设置机械臂，机械臂配置有移动支架及测试探头。该方法包括：采集正常和故障状态下的远区总辐射场；对于每个辐射单元，分别对采集的总场进行相位坐标平移使坐标系原点落在单元的物理中心，获得平移后的远区总辐射场；进行球面波展开，反解出模式展开系数；选择角域数据并计算比值并取平均值，获得故障状态下的反演幅相；将每个单元的反演幅相与该单元正常状态进行对比，定位出故障位置并判断出故障类型。本申请能精确定位故障单元，提高系统可靠性与性能，降低诊断成本，增强抗干扰能力，提高了故障诊断效率。
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公开(公告)号：CN119439085A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411541879.0
申请日：2024-10-31
Applicant: 中国电子科技集团有限公司电子科学研究院 , 西安电子科技大学
Abstract: 本发明提出了一种机载雷达天线一体化外场动态测试系统及测试方法，该系统包括：可升降的方位转台和设置于载具上的移动方舱；方位转台用于安装待测设备，提供高度调节和方位调节；移动方舱包括可开闭的机械臂舱和控制舱，机械臂舱内设置有多自由度的机械臂，机械臂上设置有测试探头，用于与待测设备的天线进行交互，机械臂配置有移动支架，移动支架用于提供机械臂在X、Y、Z方向的位移；机械臂、移动支架在测试探头测试过程中执行扫描动作；控制舱用于容纳使用者进行外场测试操作。本申请通过便于移动的机械臂进行电磁数据近远场采样，通过算法和硬件配置滤除空间多径效应对测试结果的影响，实现机载雷达天线一体化外场测试。
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公开(公告)号：CN111442909B
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202010428537.3
申请日：2020-05-20
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种大口径工作台移相干涉透过波前测量装置及方法，属于精密光学检测领域。本装置通过单个压电陶瓷以小推力驱动低摩擦重载工作台沿直线导轨运动，进而带动固定在工作台上的大口径光学元件完成移相；通过三个位移传感器实时、高动态地监测工作台的俯仰和偏摆，进而推算出光学元件的平移和倾斜移相误差，并将其带入消倾斜移相算法，最终从移相干涉图中精确提取出待测透过波前结果。本装置及方法不仅机械结构简单、成本低，而且测量精度不受1)元件口径和重量，2)工作台俯仰和偏摆等运动误差，3)波长调谐所导致的色差和4)干涉腔长度等因素的影响。本装置及方法为大口径移相干涉测量提供了一条高精度、低成本的简便可行途径。
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公开(公告)号：CN115235381B
公开(公告)日：2023-07-28
申请号：CN202210691264.0
申请日：2022-06-17
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/255 , B25B11/00
Abstract: 本发明公开的后置分光瞳双差动共焦曲率半径快速相对测量方法与装置，属于光学精密测量技术领域。本发明实现方法为：在同一批被测元件中挑选一个已知曲率半径R0的元件作为样板S0，并在其共焦位置进行扫描以获得双差动共焦光强响应曲线及其线性段拟合方程；依次装卡被测件Sn，将采集的双差动光强值映射到线性段拟合方程以实现Sn离焦量Δzn的无扫描快速测量；通过Δzn和R0计算得到被测元件的曲率半径Rn。本发明只需1次扫描和N次重复装卡即能够实现N件同批次球面元件曲率半径的快速高精度测量。本发明既能够保留差动共焦高精度测量的优势，又能够显著提高测量效率，提高大批量球面元件的加工效率和精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115235381A
公开(公告)日：2022-10-25
申请号：CN202210691264.0
申请日：2022-06-17
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/255 , B25B11/00
Abstract: 本发明公开的后置分光瞳双差动共焦曲率半径快速相对测量方法与装置，属于光学精密测量技术领域。本发明实现方法为：在同一批被测元件中挑选一个已知曲率半径R0的元件作为样板S0，并在其共焦位置进行扫描以获得双差动共焦光强响应曲线及其线性段拟合方程；依次装卡被测件Sn，将采集的双差动光强值映射到线性段拟合方程以实现Sn离焦量Δzn的无扫描快速测量；通过Δzn和R0计算得到被测元件的曲率半径Rn。本发明只需1次扫描和N次重复装卡即能够实现N件同批次球面元件曲率半径的快速高精度测量。本发明既能够保留差动共焦高精度测量的优势，又能够显著提高测量效率，提高大批量球面元件的加工效率和精度。
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公开(公告)号：CN115183699A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210691263.6
申请日：2022-06-17
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/255 , B25B11/00
Abstract: 本发明公开的一种后置分光瞳差动共焦曲率半径快速相对测量方法与装置，属于光学精密测量技术领域。本发明在同一批被测元件中挑选一个已知曲率半径R0的元件作为样板S0，并在其共焦位置进行扫描以获得差动共焦光强响应曲线及其线性段拟合方程；依次装卡被测件Sn，将采集的差动光强值映射到线性段拟合方程以实现Sn离焦量Δzn的无扫描快速测量；通过Δzn和R0计算得到被测元件的曲率半径Rn。本发明只需1次扫描和N次重复装卡即能够实现N件同批次球面元件曲率半径的快速高精度测量，相比于现有高精度曲率半径测量方法，本发明既能够保留差动共焦高精度测量的优势，又能够显著提高测量效率，提高大批量球面元件的加工效率和精度。
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公开(公告)号：CN112666172B
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN202011386354.6
申请日：2020-12-01
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01N21/892
Abstract: 本发明涉及差动共焦定面干涉靶丸外表面缺陷检测方法及装置，属于光学成像与检测技术领域。该方法利用差动共焦光强响应曲线的过零点精确定位靶丸(被测面)和相机(探测面)的轴向位置，以此实现外表面准确、自动对焦成像；在干涉显微光路中采用短相干光源和球面参考镜产生外表面零位干涉图；然后利用移相干涉技术从外表面零位干涉图中测得外表面缺陷分布。本发明利用差动共焦技术的精确定位特性来为靶丸和相机的轴向位置装调提供了更为准确的调整判断依据，进而有效提高了传统干涉显微方法的外表面对焦、检测的精度和效率，并为自动化检测提供了必要技术保障。本发明为大批量靶丸的外表面缺陷高精度、高效率、自动化检测提供新的技术途径。
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公开(公告)号：CN112683918A
公开(公告)日：2021-04-20
申请号：CN202011390178.3
申请日：2020-12-01
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01N21/892
Abstract: 本发明涉及差动共焦定面干涉靶丸内表面缺陷检测方法及装置，属于光学成像与检测技术领域。该方法利用差动共焦光强响应曲线的过零点精确定位靶丸内表面(被测面)和相机(探测面)的轴向位置，以此实现内表面准确对焦成像；在干涉光路中采用短相干光源和球面参考镜产生内表面零位干涉图；然后利用移相干涉技术从内表面零位干涉图中直接获得内表面缺陷分布。本发明首次利用差动共焦技术的精确定位特性来为干涉测量中靶丸和相机的轴向位置装调提供了客观、准确的调整判断依据，进而首次实现了靶丸内表面缺陷的直接、精密检测。本发明为靶丸内表面缺陷的高精度直接检测和大批量高效自动化提供第一条可行途径。
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公开(公告)号：CN112666172A
公开(公告)日：2021-04-16
申请号：CN202011386354.6
申请日：2020-12-01
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01N21/892
Abstract: 本发明涉及差动共焦定面干涉靶丸外表面缺陷检测方法及装置，属于光学成像与检测技术领域。该方法利用差动共焦光强响应曲线的过零点精确定位靶丸(被测面)和相机(探测面)的轴向位置，以此实现外表面准确、自动对焦成像；在干涉显微光路中采用短相干光源和球面参考镜产生外表面零位干涉图；然后利用移相干涉技术从外表面零位干涉图中测得外表面缺陷分布。本发明利用差动共焦技术的精确定位特性来为靶丸和相机的轴向位置装调提供了更为准确的调整判断依据，进而有效提高了传统干涉显微方法的外表面对焦、检测的精度和效率，并为自动化检测提供了必要技术保障。本发明为大批量靶丸的外表面缺陷高精度、高效率、自动化检测提供新的技术途径。
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