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公开(公告)号：CN103335725B
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201310251707.5
申请日：2013-06-21
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J5/10
Abstract: 本发明公开了一种校正光敏元辐射通量非均匀性的数据处理方法，该方法利用矩阵运算的方法，根据安装探测器的实际杜瓦组件的几何尺寸精确计算光敏元辐射通量矩阵后对测试得到的探测器响应率进行校正，主要步骤包括：1，计算探测器的对角线长度；2，测量杜瓦组件的几何参数；3，计算最大黑体扩展源直径；4，生成最大黑体扩展源位置矩阵；5，生成杜瓦窗口矩阵；6，生成探测器视场范围矩阵；7，计算探测器对角线上光敏元的辐照度向量；8，计算整个探测器上的光敏元辐射通量矩阵；9，校正探测器光敏元响应率。本发明的优点为：计算结果准确，计算速度快。
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公开(公告)号：CN103245859B
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201310149157.6
申请日：2013-04-26
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种改进的焦平面探测器芯片测试系统及测试方法，测试系统包括屏蔽间、屏蔽盒、杜瓦瓶、多路开关、源表、计算机、红外发射装置、红外接收装置和短信报警器。多路开关的行输出端与源表的一个输入端相连，杜瓦瓶的公共端引脚和其余引脚分别通过屏蔽盒上对应的穿舱连接器与源表的另一个输入端及多路开关的列输入端相连，多路开关、源表、红外发射装置与计算机相连，红外接收装置与短信报警器相连。计算机循环配置多路开关、源表进行被测焦平面探测器光敏元的电学特性测量及数据保存，测量完毕后配置红外发射装置使其向红外接收装置发送红外光，红外接收装置接收到该红外光后触发短信报警器。本发明的优点是抗干扰能力强、效率高。
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公开(公告)号：CN103310108B
公开(公告)日：2016-02-17
申请号：CN201310251793.X
申请日：2013-06-21
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G06F19/00
Abstract: 本发明公开了一种红外焦平面探测器盲元筛选方法。本发明用于筛选面阵红外焦平面探测器中特定形状的盲元，并对其数量、连续盲元团簇的质心、连续盲元数等信息进行统计。本发明的方法步骤包括：1，生成待筛选的特定形状的盲元矩阵，2，求解探测器原始盲元数据中的连续盲元信息，3，寻找包围连续盲元团簇的最小盲元团簇矩阵，4，求解最小盲元团簇矩阵的信息，5，循环判断连续盲元团簇矩阵中是否包含待筛选的特定形状的盲元，6，统计保存筛选结果。本发明的优点是实现了特定形状的盲元筛选的自动化，提高了盲元筛选的效率，并且本发明使用的方法计算过程简单、运算速度快。
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公开(公告)号：CN103335725A
公开(公告)日：2013-10-02
申请号：CN201310251707.5
申请日：2013-06-21
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J5/10
Abstract: 本发明公开了一种校正光敏元辐射通量非均匀性的数据处理方法，该方法利用矩阵运算的方法，根据安装探测器的实际杜瓦组件的几何尺寸精确计算光敏元辐射通量矩阵后对测试得到的探测器响应率进行校正，主要步骤包括：1，测量杜瓦组件的几何参数；2，计算探测器的对角线长度；3，计算最大黑体扩展源直径；4，生成最大黑体扩展源位置矩阵；5，生成杜瓦窗口矩阵；6，生成探测器视场范围矩阵；7，计算探测器对角线上光敏元的辐照度向量；8，计算整个探测器上的光敏元辐射通量矩阵；9，校正探测器光敏元响应率。本发明的优点为：计算结果准确，计算速度快。
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公开(公告)号：CN103308008B
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201310251775.1
申请日：2013-06-21
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01B11/30
Abstract: 本发明公开了一种低温状态下元件平面度的测量装置及测量方法，测量装置包括激光器、汇聚光学系统、成像光学系统、光电探测器、高精度三维位移平台、专用杜瓦、杜瓦支架、光学避震平台及数据处理装置；被测元件安放于专用杜瓦中；激光器发出的光束通过汇聚光学系统垂直入射于被测元件表面，成像光学系统和光电探测器对激光光斑成像，利用激光三角法测量被测元件表面测量点的微位移；数据处理系统利用质心算法计算激光光斑的位置，控制高精度三维位移平台实现二维扫描测量并计算被测元件表面平面度。本发明的优点在于：测量装置利用激光三角法位移测量原理实现非接触测量，原理简单易于实现，且工作距离可调，使得该装置具有很强的适用性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103308008A
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN201310251775.1
申请日：2013-06-21
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01B11/30
Abstract: 本发明公开了一种低温状态下元件平面度的测量装置及测量方法，测量装置包括激光器、汇聚光学系统、成像光学系统、光电探测器、高精度三维位移平台、专用杜瓦、杜瓦支架、光学避震平台及数据处理装置；被测元件安放于专用杜瓦中；激光器发出的光束通过汇聚光学系统垂直入射于被测元件表面，成像光学系统和光电探测器对激光光斑成像，利用激光三角法测量被测元件表面测量点的微位移；数据处理系统利用质心算法计算激光光斑的位置，控制高精度三维位移平台实现二维扫描测量并计算被测元件表面平面度。本发明的优点在于：测量装置利用激光三角法位移测量原理实现非接触测量，原理简单易于实现，且工作距离可调，使得该装置具有很强的适用性。
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公开(公告)号：CN104035017A
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201410258872.8
申请日：2014-06-12
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种金属半导体接触的非线性传输线模型及参数的拟合方法，它涉及到半导体器件结构性能的检测和表征领域，其步骤包括：1.建立非线性传输线模型；2.测量半导体薄膜材料上平行双矩形电极的I-V曲线；3.利用关系式R＝dV/dI获得R-V曲线；4.利用非线性传输线模型计算测试结构的理论R-V曲线；5.利用模拟退火遗传算法拟合金属半导体接触的物理参数。本发明的优点为：建立了非线性传输线模型和相应的数值算法，可以定量的提取金属半导体接触相关物理参数，为精确表征和分析非线性金属半导体接触提供了新的方法。
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公开(公告)号：CN103310108A
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN201310251793.X
申请日：2013-06-21
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G06F19/00
Abstract: 本发明公开了一种红外焦平面探测器盲元筛选方法。本发明用于筛选面阵红外焦平面探测器中特定形状的盲元，并对其数量、连续盲元团簇的质心、连续盲元数等信息进行统计。本发明的方法步骤包括：1，生成待筛选的特定形状的盲元矩阵；2，求解探测器原始盲元数据中的连续盲元信息；3，寻找包围连续盲元团簇的最小盲元团簇矩阵；4，求解最小盲元团簇矩阵的信息；5，循环判断连续盲元团簇矩阵中是否包含待筛选的特定形状的盲元；6，统计保存筛选结果。本发明的优点是实现了特定形状的盲元筛选的自动化，提高了盲元筛选的效率，并且本发明使用的方法计算过程简单、运算速度快。
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公开(公告)号：CN103245859A
公开(公告)日：2013-08-14
申请号：CN201310149157.6
申请日：2013-04-26
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种改进的焦平面探测器芯片测试系统及测试方法，测试系统包括屏蔽间、屏蔽盒、杜瓦瓶、多路开关、源表、计算机、红外发射装置、红外接收装置和短信报警器。多路开关的行输出端与源表的一个输入端相连，杜瓦瓶的公共端引脚和其余引脚分别通过屏蔽盒上对应的穿舱连接器与源表的另一个输入端及多路开关的列输入端相连，多路开关、源表、红外发射装置与计算机相连，红外接收装置与短信报警器相连。计算机循环配置多路开关、源表进行被测焦平面探测器光敏元的电学特性测量及数据保存，测量完毕后配置红外发射装置使其向红外接收装置发送红外光，红外接收装置接收到该红外光后触发短信报警器。本发明的优点是抗干扰能力强、效率高。
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公开(公告)号：CN203772969U
公开(公告)日：2014-08-13
申请号：CN201320217726.1
申请日：2013-04-26
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本实用新型公开了一种改进的焦平面探测器芯片测试系统，测试系统包括屏蔽间、屏蔽盒、杜瓦瓶、多路开关、源表、计算机、红外发射装置、红外接收装置和短信报警器。多路开关的行输出端与源表的一个输入端相连，杜瓦瓶的公共端引脚和其余引脚分别通过屏蔽盒上对应的穿舱连接器与源表的另一个输入端及多路开关的列输入端相连，多路开关、源表、红外发射装置与计算机相连，红外接收装置与短信报警器相连。计算机循环配置多路开关、源表进行被测焦平面探测器光敏元的电学特性测量及数据保存，测量完毕后配置红外发射装置使其向红外接收装置发送特定频率的红外光，红外接收装置接收到该红外光后触发短信报警器。本专利的优点是抗干扰能力强、效率高。
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