一种用于测量晶体本征分辨率的实验装置

    公开(公告)号:CN106872491A

    公开(公告)日:2017-06-20

    申请号:CN201510919512.2

    申请日:2015-12-10

    Abstract: 本发明公开了一种测量晶体本征分辨率的实验装置,包括工作台、放射检测装置、探测装置和处理装置,放射检测装置包括安装座、放射源和第一探测器,安装座包括X轴移动组件和Z轴移动组件,探测装置包括两个第二探测器和晶体阵列座。由于第一探测器的探测端与放射源之间可放置晶体片,使得第一探测器探测晶体片的闪烁光子,并将光信号转化为第一电信号,处理器获取第一电信号并将第一电信号与两个电信号比较,判断两个第二探测器的探测是否准确,并且放射检测装置包括X轴移动组件和Z轴移动组件能够准确调节放射源与晶体阵列的位置,提高了实验的准确性。

    CT系统及其冷阴极X射线管

    公开(公告)号:CN106783488A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201611129215.9

    申请日:2016-12-09

    CPC classification number: H01J35/12

    Abstract: 本发明涉及一种CT系统及其冷阴极X射线管。上述的冷阴极X射线管包括壳体、阳极以及循环组件;壳体开设有腔体;阳极位于腔体内,阳极与壳体连接使腔体分隔为第一部分和第二部分,第一部分填充有冷却液;第二部分具有真空度;阳极分别位于第一部分和第二部分内;循环组件的两端均与壳体连接,循环组件驱动冷却液循环流动于第一部分内。上述的CT系统及其冷阴极X射线管,由于循环组件的两端均与壳体连接,且冷却液经循环组件的驱动流动于第一部分内,使电子束轰击到阳极上产生的热量能够经冷却液带出第一部分进行快速冷却,从而解决了冷阴极X射线管存在阳极的散热性能较差的问题。

    一种用于测量晶体分辨率的实验平台

    公开(公告)号:CN106872505A

    公开(公告)日:2017-06-20

    申请号:CN201510918744.6

    申请日:2015-12-10

    Abstract: 本发明公开了一种用于测量晶体分辨率的实验平台,包括:底座;两个探测器,两个所述探测器分别可移动地安装在所述底座上,并且两个所述探测器的检测端面对面设置;晶体座,所述晶体座上端设有用于安放晶体的卡接部,所述晶体座安装在所述底座上,并且位于两个所述探测器之间;以及处理装置分与两个探测器电信号连接。由于两个探测器分别位于晶体座的两侧,使得两个探测器可同时对晶体座上的晶体进行探测,获取晶体上闪烁光的光信号并将其转化为电信号,处理装置获取两个探测器分别转化的电信号,根据两个电信号可计算出闪烁光子在晶体上的具体位置,再通过该具体位置得出的测量响应曲线更加接近实际响应曲线,即提高了测量的分辨率。

    CT系统及其冷阴极X射线管

    公开(公告)号:CN106783485B

    公开(公告)日:2019-05-10

    申请号:CN201611142742.3

    申请日:2016-12-09

    Abstract: 本发明涉及一种CT系统及其冷阴极X射线管。上述的冷阴极X射线管包括壳体、阳极以及循环组件;壳体开设有腔体、第一安装孔和第二安装孔,腔体分别与第一安装孔和第二安装孔连通;腔体具有真空度;部分阳极位于腔体内,且阳极的两端分别伸出第一安装孔和第二安装孔;循环组件分别连接于阳极的两端,循环组件驱动冷却液循环进出于容置腔内。上述的CT系统及其冷阴极X射线管,由于循环组件分别连接于阳极的两端,且冷却液经循环组件的驱动进出于容置腔内,使电子束轰击到阳极上产生的热量能够经冷却液带出容置腔进行快速冷却,从而解决了冷阴极X射线管存在阳极的散热性能较差的问题。

    CT系统及其冷阴极X射线管

    公开(公告)号:CN106783485A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201611142742.3

    申请日:2016-12-09

    CPC classification number: H01J35/06

    Abstract: 本发明涉及一种CT系统及其冷阴极X射线管。上述的冷阴极X射线管包括壳体、阳极以及循环组件;壳体开设有腔体、第一安装孔和第二安装孔,腔体分别与第一安装孔和第二安装孔连通;腔体具有真空度;部分阳极位于腔体内,且阳极的两端分别伸出第一安装孔和第二安装孔;循环组件分别连接于阳极的两端,循环组件驱动冷却液循环进出于容置腔内。上述的CT系统及其冷阴极X射线管,由于循环组件分别连接于阳极的两端,且冷却液经循环组件的驱动进出于容置腔内,使电子束轰击到阳极上产生的热量能够经冷却液带出容置腔进行快速冷却,从而解决了冷阴极X射线管存在阳极的散热性能较差的问题。

    一种用于测量晶体分辨率的实验平台

    公开(公告)号:CN106872505B

    公开(公告)日:2020-04-14

    申请号:CN201510918744.6

    申请日:2015-12-10

    Abstract: 本发明公开了一种用于测量晶体分辨率的实验平台,包括:底座;两个探测器,两个所述探测器分别可移动地安装在所述底座上,并且两个所述探测器的检测端面对面设置;晶体座,所述晶体座上端设有用于安放晶体的卡接部,所述晶体座安装在所述底座上,并且位于两个所述探测器之间;以及处理装置分与两个探测器电信号连接。由于两个探测器分别位于晶体座的两侧,使得两个探测器可同时对晶体座上的晶体进行探测,获取晶体上闪烁光的光信号并将其转化为电信号,处理装置获取两个探测器分别转化的电信号,根据两个电信号可计算出闪烁光子在晶体上的具体位置,再通过该具体位置得出的测量响应曲线更加接近实际响应曲线,即提高了测量的分辨率。

    一种用于测量晶体本征分辨率的实验装置

    公开(公告)号:CN106872491B

    公开(公告)日:2020-01-24

    申请号:CN201510919512.2

    申请日:2015-12-10

    Abstract: 本发明公开了一种测量晶体本征分辨率的实验装置,包括工作台、放射检测装置、探测装置和处理装置,放射检测装置包括安装座、放射源和第一探测器,安装座包括X轴移动组件和Z轴移动组件,探测装置包括两个第二探测器和晶体阵列座。由于第一探测器的探测端与放射源之间可放置晶体片,使得第一探测器探测晶体片的闪烁光子,并将光信号转化为第一电信号,处理器获取第一电信号并将第一电信号与两个电信号比较,判断两个第二探测器的探测是否准确,并且放射检测装置包括X轴移动组件和Z轴移动组件能够准确调节放射源与晶体阵列的位置,提高了实验的准确性。

    CT系统及其冷阴极X射线管

    公开(公告)号:CN106783488B

    公开(公告)日:2019-05-10

    申请号:CN201611129215.9

    申请日:2016-12-09

    Abstract: 本发明涉及一种CT系统及其冷阴极X射线管。上述的冷阴极X射线管包括壳体、阳极以及循环组件;壳体开设有腔体;阳极位于腔体内,阳极与壳体连接使腔体分隔为第一部分和第二部分,第一部分填充有冷却液;第二部分具有真空度;阳极分别位于第一部分和第二部分内;循环组件的两端均与壳体连接,循环组件驱动冷却液循环流动于第一部分内。上述的CT系统及其冷阴极X射线管,由于循环组件的两端均与壳体连接,且冷却液经循环组件的驱动流动于第一部分内,使电子束轰击到阳极上产生的热量能够经冷却液带出第一部分进行快速冷却,从而解决了冷阴极X射线管存在阳极的散热性能较差的问题。

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