公开(公告)号：CN111652844B

公开(公告)日：2024-04-12

申请号：CN202010345590.7

申请日：2020-04-27

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 唐章东 ,  李璇 ,  张红旗 ,  王征 ,  曹勇 ,  农宁宁 ,  段岑林 ,  董浩威 ,  王雪生 ,  李庆 ,  张帅 ,  刘敏 ,  辛奇 ,  纪维 ,  范壮壮

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/10 ,  G06T7/13 ,  G06T7/73 ,  G06T3/60 ,  G06T3/4007 ,  G06T5/70

Abstract: 本发明公开了一种基于数字图像区域增长的X射线缺陷检测方法，所述方法包括如下步骤：对元器件图像中的外部阴影进行滤波处理得到阴影滤波后的图像；对阴影滤波后的图像采用基于灰度投影积分的边缘检测方法得到阴影滤波后的图像中元器件的倾斜角度，对阴影滤波后的图像进行空间坐标变换得到旋转校正后的元器件图像；将旋转校正后的元器件图像通过双三次内插算法得到统一尺寸的图像；对统一尺寸的图像采用归一化互相关的匹配算法得到模板匹配的图像；采用区域生长算法的对模板匹配的图像进行图像分割得到元器件的缺陷位置。本发明解决了当前的X射线检测试验效率较低，人员劳动强度大的问题。

公开(公告)号：CN111652844A

公开(公告)日：2020-09-11

申请号：CN202010345590.7

申请日：2020-04-27

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 唐章东 ,  李璇 ,  张红旗 ,  王征 ,  曹勇 ,  农宁宁 ,  段岑林 ,  董浩威 ,  王雪生 ,  李庆 ,  张帅 ,  刘敏 ,  辛奇 ,  纪维 ,  范壮壮

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/10 ,  G06T7/13 ,  G06T7/73 ,  G06T3/60 ,  G06T3/40 ,  G06T5/00

Abstract: 本发明公开了一种基于数字图像区域增长的X射线缺陷检测方法，所述方法包括如下步骤：对元器件图像中的外部阴影进行滤波处理得到阴影滤波后的图像；对阴影滤波后的图像采用基于灰度投影积分的边缘检测方法得到阴影滤波后的图像中元器件的倾斜角度，对阴影滤波后的图像进行空间坐标变换得到旋转校正后的元器件图像；将旋转校正后的元器件图像通过双三次内插算法得到统一尺寸的图像；对统一尺寸的图像采用归一化互相关的匹配算法得到模板匹配的图像；采用区域生长算法的对模板匹配的图像进行图像分割得到元器件的缺陷位置。本发明解决了当前的X射线检测试验效率较低，人员劳动强度大的问题。