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公开(公告)号：CN110907809B
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN201911055465.6
申请日：2019-10-31
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/30 , G01R31/317 , G01R31/3173
Abstract: 本发明涉及一种大规模数字集成电路的板方式程控电压拉偏试验电路，包括电源模块、第一数控电位器、第二数控电位器、第一继电器、第二继电器、第三继电器、第一电阻、第二电阻、第三电阻、指令控制模块，电源模块的第一控制端与第一数控电位器的可调电阻端连接，电源模块的第二控制端与第一继电器的输出端连接，第一继电器的第一输入端与第二数控电位器的可调电阻端连接，第一继电器的第一输入端与第二继电器的输出端连接。本发明通过电源模块、数控电位器、继电器、电阻和指令控制模块间配合，实现大规模数字电路板方式拉偏试验中拉偏电压的自动化控制，无需携带大体积的专用仪表，因此便携性更优。
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公开(公告)号：CN114236421B
公开(公告)日：2024-11-29
申请号：CN202111452276.X
申请日：2021-12-01
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明涉及一种片式钽电容器混合漏电流检测方法，步骤包括：确定片式钽电容器的漏电流总体分布；对片式钽电容器的混合漏电流进行检测；确定片式钽电容器的混合漏电流检测参数总体分布；对片式钽电容器的混合漏电流检测参数总体分布进行修正；确定片式钽电容器的混合漏电流检测参数判据；对片式钽电容器混合漏电流检测参数超差进行处理；对片式钽电容器的混合漏电流检测效果进行定义并计算。本发明实现舰载导弹的快速实战化发射，有效提高舰载武器的实战能力和作战效能。
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公开(公告)号：CN114236347B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202111449125.9
申请日：2021-11-30
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路，包括计算机、测试机、采样元件、调理电路、功耗采集单元和被测电路；测试机包括：数字通道A、直流源、数字通道B和GND/DGS；功耗采集单元包括2路采集通道：通道A和通道B，两通道公用一路参考端；被测电路包括：电源端口VCC、指令集输入总线I/O和地端口GND；计算机通过总线A与测试机相连，通过总线B与功耗采集单元相连；测试机的数字通道A连到功耗采集单元通道A。本发明采用数据相关性分析方法对集成电路功耗曲线进行一致性分析，从量级和时间两个维度分析集成电路在接收不同指令时的功耗变化，从而在黑盒状态下实现集成电路有效指令集的筛选。
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公开(公告)号：CN114236421A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202111452276.X
申请日：2021-12-01
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明涉及一种片式钽电容器混合漏电流检测方法，步骤包括：确定片式钽电容器的漏电流总体分布；对片式钽电容器的混合漏电流进行检测；确定片式钽电容器的混合漏电流检测参数总体分布；对片式钽电容器的混合漏电流检测参数总体分布进行修正；确定片式钽电容器的混合漏电流检测参数判据；对片式钽电容器混合漏电流检测参数超差进行处理；对片式钽电容器的混合漏电流检测效果进行定义并计算。本发明实现舰载导弹的快速实战化发射，有效提高舰载武器的实战能力和作战效能。
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公开(公告)号：CN114236347A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202111449125.9
申请日：2021-11-30
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路，包括计算机、测试机、采样元件、调理电路、功耗采集单元和被测电路；测试机包括：数字通道A、直流源、数字通道B和GND/DGS；功耗采集单元包括2路采集通道：通道A和通道B，两通道公用一路参考端；被测电路包括：电源端口VCC、指令集输入总线I/O和地端口GND；计算机通过总线A与测试机相连，通过总线B与功耗采集单元相连；测试机的数字通道A连到功耗采集单元通道A。本发明采用数据相关性分析方法对集成电路功耗曲线进行一致性分析，从量级和时间两个维度分析集成电路在接收不同指令时的功耗变化，从而在黑盒状态下实现集成电路有效指令集的筛选。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111652844A
公开(公告)日：2020-09-11
申请号：CN202010345590.7
申请日：2020-04-27
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于数字图像区域增长的X射线缺陷检测方法，所述方法包括如下步骤：对元器件图像中的外部阴影进行滤波处理得到阴影滤波后的图像；对阴影滤波后的图像采用基于灰度投影积分的边缘检测方法得到阴影滤波后的图像中元器件的倾斜角度，对阴影滤波后的图像进行空间坐标变换得到旋转校正后的元器件图像；将旋转校正后的元器件图像通过双三次内插算法得到统一尺寸的图像；对统一尺寸的图像采用归一化互相关的匹配算法得到模板匹配的图像；采用区域生长算法的对模板匹配的图像进行图像分割得到元器件的缺陷位置。本发明解决了当前的X射线检测试验效率较低，人员劳动强度大的问题。
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公开(公告)号：CN108627760B
公开(公告)日：2020-07-14
申请号：CN201810462117.X
申请日：2018-05-15
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种FPGA芯片自激励变频动态老炼电路，包括第一时钟自激励产生电路、第二时钟自激励产生电路、结温检测电路、时钟频率控制电路、老炼功能测试电路，第一时钟自激励产生电路，用于产生频率为fH的时钟信号Clk_H；第二时钟自激励产生电路，用于产生频率为fL的时钟信号Clk_L；结温检测电路，用于监测FPGA的结温状态，输出超温报警信号OT至时钟变频控制电路；时钟变频控制电路，根据超温报警信号OT选择频率时钟信号Clk_H或者CLK_L输出至老炼功能测试电路；老炼功能测试电路，用于验证FPGA内部逻辑资源在老炼测试环境下的功能。本发明FPGA可根据实际结温状态自动调节动态老炼时内部逻辑的工作频率，从而保护芯片不会超结温工作。
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公开(公告)号：CN111025110A
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201911158149.1
申请日：2019-11-22
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/26 , G01R31/265 , G01R31/303
Abstract: 本发明提供了一种碳化硅器件单粒子效应的检测系统及方法。所述检测系统包括：BNC转接装置设置于真空罐之上，计算机分别与高阻表、直流源和第二DB9转接装置连接；高阻表的高压输出High端口与BNC转接装置连接；直流源的电压输出端口与第二DB9转接装置连接；BNC转接装置、第二DB9转接装置和第一DB9转接装置分别与检测装置连接；第一DB9转接装置和高阻表上的仪表输入High端口分别与保护装置连接；高阻表的高压输出Low端口与高阻表上的仪表输入Low端口内部连接；检测装置置于真空罐内，粒子束流通过加速器管道输送至检测装置上的辐照区域。本发明能精确检测出碳化硅器件发生单粒子效应的电压值。
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公开(公告)号：CN107452426B
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201710607703.4
申请日：2017-07-24
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G11C29/56
Abstract: 本发明提供一种FPGA芯片中存储元件的检测电路及方法，电路包括切片，切片有多个含依次连接的第一元件、查找表和第二元件的通道，第二元件接下一通道的第一元件。元件在收到第一时钟信号时接收存储检测信号；收到第二时钟信号时接收存储参考信号，输出结果。或包括：可配置逻辑块的两切片中的被测和检测电路，被测电路有多个待测第三元件，检测电路有连接的查找表和第四元件的多个通道，第四元件接下一通道查找表的输入，每个第三元件接查找表另一输入。第三元件接收存储检测信号；查找表接收参考和检测信号，输出给第四元件；第四元件收到第四时钟信号时接收存储检测信号，接收到第五时钟信号时接收存储参考信号，输出结果。元件为存储元件。
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公开(公告)号：CN105928678B
公开(公告)日：2019-03-12
申请号：CN201610244083.8
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种CCD图像传感器振动、冲击试验夹具，包括夹具本体和盖板，夹具本体为立方体结构，在每个面上设置有放置CCD图像传感器的样品放置孔，每个面上的样品放置孔轴对称或中心对称；在样品放置孔上开有引脚固定孔，带有引脚的CCD图像传感器可插入夹具本体的引脚固定孔中。本发明将夹具本体设计为立方体结构，每个面样品放置孔厚度为0.6cm～1.3cm，六个面围成中空结构，样品放置孔轴对称或中心对称设计，以防止在振动过程中产生共振，造成样品损伤；同时在设备对样品重量有一定要求的情况下，以完成60G～80G高量级振动、3000G以上冲击试验，易于实现夹具本体的空间反转。
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