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公开(公告)号：CN106571166A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201610986357.0
申请日：2016-11-09
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G11C29/56
Abstract: 一种可定制流程的MT29F系列NAND FLASH测试老炼系统，包括上位机、程控电源、高温试验箱、USB转UART桥、下位机，下位机包括N个结构完全相同的母板、M个结构完全相同的信号板、K个结构完全相同的DUT板，下位机中每块母板安装多块信号板，每块信号板安装1块DUT板，母板包括电源接口、UART接口、与信号板对接的多个连接器、与信号板对接的多个信号板身份设置电路，信号板包括作为测试控制器的FPGA及其辅助电路、与母板对接的连接器、与DUT板对接的连接器，DUT板包括多个耐高温试验夹具、与信号板对接的连接器。
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公开(公告)号：CN107452426B
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201710607703.4
申请日：2017-07-24
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G11C29/56
Abstract: 本发明提供一种FPGA芯片中存储元件的检测电路及方法，电路包括切片，切片有多个含依次连接的第一元件、查找表和第二元件的通道，第二元件接下一通道的第一元件。元件在收到第一时钟信号时接收存储检测信号；收到第二时钟信号时接收存储参考信号，输出结果。或包括：可配置逻辑块的两切片中的被测和检测电路，被测电路有多个待测第三元件，检测电路有连接的查找表和第四元件的多个通道，第四元件接下一通道查找表的输入，每个第三元件接查找表另一输入。第三元件接收存储检测信号；查找表接收参考和检测信号，输出给第四元件；第四元件收到第四时钟信号时接收存储检测信号，接收到第五时钟信号时接收存储参考信号，输出结果。元件为存储元件。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106571166B
公开(公告)日：2020-02-14
申请号：CN201610986357.0
申请日：2016-11-09
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G11C29/56
Abstract: 一种可定制流程的MT29F系列NAND FLASH测试老炼系统，包括上位机、程控电源、高温试验箱、USB转UART桥、下位机，下位机包括N个结构完全相同的母板、M个结构完全相同的信号板、K个结构完全相同的DUT板，下位机中每块母板安装多块信号板，每块信号板安装1块DUT板，母板包括电源接口、UART接口、与信号板对接的多个连接器、与信号板对接的多个信号板身份设置电路，信号板包括作为测试控制器的FPGA及其辅助电路、与母板对接的连接器、与DUT板对接的连接器，DUT板包括多个耐高温试验夹具、与信号板对接的连接器。
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公开(公告)号：CN107064783A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201611124333.0
申请日：2016-12-08
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明提供一种FPGA芯片中查找表的检测电路及检测方法，所述FPGA芯片包括N个可配置逻辑块，每个所述可配置逻辑块包含两个切片，两个切片中均具有M个查找表，其中一个切片为被测电路，另一个切片为检测电路，所述检测电路包括：控制信号电路，发送控制信号；多个选择器，接收所述控制信号，连接被测电路中平级的查找表，或者连接SR_IN端口或上一级的触发器；时钟信号电路，发送时钟信号；以及多个所述触发器，接收所述时钟信号，所述触发器与检测电路中平级的选择器连接，且最下级的触发器与SR_OUT端口连接。本发明具有运行速度快、时序收敛、测试结果稳定可靠等优点。
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公开(公告)号：CN107064783B
公开(公告)日：2019-10-29
申请号：CN201611124333.0
申请日：2016-12-08
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明提供一种FPGA芯片中查找表的检测电路及检测方法，所述FPGA芯片包括N个可配置逻辑块，每个所述可配置逻辑块包含两个切片，两个切片中均具有M个查找表，其中一个切片为被测电路，另一个切片为检测电路，所述检测电路包括：控制信号电路，发送控制信号；多个选择器，接收所述控制信号，连接被测电路中平级的查找表，或者连接SR_IN端口或上一级的触发器；时钟信号电路，发送时钟信号；以及多个所述触发器，接收所述时钟信号，所述触发器与检测电路中平级的选择器连接，且最下级的触发器与SR_OUT端口连接。本发明具有运行速度快、时序收敛、测试结果稳定可靠等优点。
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公开(公告)号：CN107452426A
公开(公告)日：2017-12-08
申请号：CN201710607703.4
申请日：2017-07-24
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G11C29/56
Abstract: 本发明提供一种FPGA芯片中存储元件的检测电路及方法，电路包括切片，切片有多个含依次连接的第一元件、查找表和第二元件的通道，第二元件接下一通道的第一元件。元件在收到第一时钟信号时接收存储检测信号；收到第二时钟信号时接收存储参考信号，输出结果。或包括：可配置逻辑块的两切片中的被测和检测电路，被测电路有多个待测第三元件，检测电路有连接的查找表和第四元件的多个通道，第四元件接下一通道查找表的输入，每个第三元件接查找表另一输入。第三元件接收存储检测信号；查找表接收参考和检测信号，输出给第四元件；第四元件收到第四时钟信号时接收存储检测信号，接收到第五时钟信号时接收存储参考信号，输出结果。元件为存储元件。
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公开(公告)号：CN106569124A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201610987474.9
申请日：2016-11-09
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/317
CPC classification number: G01R31/317
Abstract: 一种Virtex‑5 FPGA通用动态老炼系统，包括上位机、程控电源、编程器、老炼信号板、高温试验箱、老炼试验板、老炼FPGA；上位机产生上电指令，发送老炼FPGA配置位流，接收并显示老炼响应数据，程控电源进行供电，编程器完成老炼FPGA的位流配置，老炼信号板产生老炼激励信号，高温试验箱调节老炼信号板、老炼FPGA的温度，老炼FPGA，包括时钟管理模块、系统监控模块、门控时钟模块、老炼功能模块，根据芯片温度自动调节老炼功能模块状态，产生老炼响应数据。
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