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公开(公告)号：CN111638578A
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN202010610533.7
申请日：2020-06-30
Applicant: 中国计量大学 , 杭州富光科技有限公司
IPC: G02B6/42
Abstract: 本发明涉及一种基于镜像双目视觉的自动光准直耦合定位装置，适用于光器件生产，包括控制台、防振台、输入端准直器夹持机构、接收端准直器夹持机构、光器件基板夹持机构、机械臂吸取机构、激光光源、光功率计、镜像双目视觉检测机构、多轴运动平台，所述接收端准直器夹持机构、光器件基板夹持机构固定装载在多轴运动平台上，其余机构固定于防振台上。本发明通过镜像双目视觉对光器件进行初步耦合后再根据光功率计所接受的光强信号进行高精度耦合，结构简单、硬件成本，能高效、高精度地进行光准直耦合。
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公开(公告)号：CN107274359B
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN201710374595.0
申请日：2017-05-24
Applicant: 中国计量大学
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明公开了一种面阵用虚拟像元内插细分与信号平滑化的方法。对于每个二维像元或者相邻邻接的四个二维像元分别内插构建子像元并计算子像元的光电信号值，内插细分后子像元的光电信号面密度依据内插前的相近像元的平均面密度计算，实现了对光电信号的平滑化处理；对于单个二维像元，内插构建小正方形的中心子像元，小正方形的中心子像元是由单个二维像元的四条边的边长中点相依次连接构成；相邻邻接的四个二维像元内插构建小正方形的连接子像元，小正方形的连接子像元是由相邻四个二维像元形成的四条共同边的边长中点相依次连接构成。本发明能使减少虚拟像元间距，能使信号显著地平滑化，减小了各像元原来转换率误差，进而减小峰位标准差。
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公开(公告)号：CN107274359A
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201710374595.0
申请日：2017-05-24
Applicant: 中国计量大学
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明公开了一种面阵用虚拟像元内插细分与信号平滑化的方法。对于每个二维像元或者相邻邻接的四个二维像元分别内插构建子像元并计算子像元的光电信号值，内插细分后子像元的光电信号面密度依据内插前的相近像元的平均面密度计算，实现了对光电信号的平滑化处理；对于单个二维像元，内插构建小正方形的中心子像元，小正方形的中心子像元是由单个二维像元的四条边的边长中点相依次连接构成；相邻邻接的四个二维像元内插构建小正方形的连接子像元，小正方形的连接子像元是由相邻四个二维像元形成的四条共同边的边长中点相依次连接构成。本发明能使减少虚拟像元间距，能使信号显著地平滑化，减小了各像元原来转换率误差，进而减小峰位标准差。
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公开(公告)号：CN119643623A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411670098.1
申请日：2024-11-21
Applicant: 杭州大华仪器制造有限公司 , 中国计量大学
Abstract: 本发明公开了一种金属热膨胀系数双端面测定方法和装置，包括激光光源系统、第一干涉系统、第二干涉系统、真空管式炉、温度控制器、金属棒和观察屏等，其中，激光光源系统产生频率稳定的激光束；第一干涉系统测量金属左端面伸长量；第二干涉系统测量金属右端面伸长量；真空管式炉加热金属棒；温度控制器实现真空管式炉的加热和温控；金属棒受热后沿轴向伸长；观察屏展示干涉条纹吞没。开启加热控制，记录样品上的实测温度值和特定温度区间内第一和第二观察屏上圆环的各自吞没数，测温结束后两端相加计算被测金属的线胀系数。该金属热膨胀系数双端面测定方法和装置，采用真空管式炉加热金属棒，其加温均匀，保温性好。
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公开(公告)号：CN118914267A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202411178285.8
申请日：2024-08-27
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01N25/16 , G01N21/952
Abstract: 本发明公开了一种金属热膨胀系数测量方法和装置，所述激光光源发出的激光通过定位光阑后由分光镜分裂成强度均衡的测量光和参考光，测量光由光杠杆反射镜原路返回后经分光镜转折至面阵CCD，参考镜由参考镜原路返回后经分光镜入射至面阵CCD，两束光在CCD处形成干涉同心圆环，图像处理模块提取圆心，当金属棒受热伸长时，同心圆环的圆心会发生侧移，由此反推出侧移前后金属棒的伸长量，通过理论公式获得金属棒的线膨胀系数值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108827162B
公开(公告)日：2023-08-18
申请号：CN201811048937.0
申请日：2018-09-10
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了基于电容传感器的法布里珀罗标准具微位移测量系统的线性度比对装置和方法。本发明中支架一端固定在光学平台上，标准圆锥光束系统放置在其上方，面阵器件布置在标准圆锥光束系统前且处于同一光轴中用于干涉成像，应力加载系统改变应力F的大小，电容传感器探头通过检测电容的变化量，从而根据电路模块得到矩形等截面梁的形变量。用标准圆锥光束系统和电容传感器得到相应的位移量，通过对二者线性度曲线的比较完成F‑P标准具微位移测量系统的线性度比对。本发明具有检测精度高，可同步完成两种方法的测量，适用于高准确度微位移测量系统的线性度比对。
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公开(公告)号：CN110595351B
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN201910879698.1
申请日：2019-09-18
Abstract: 本发明公开了一种具有标准具的白光干涉仪的量值测量方法，其测量步骤为：在白光干涉仪的光路中分光光路前增加通光孔径相同平行光路系统，并在其中放置标准具；调整干涉仪的干涉条纹，将干涉仪两个相干光路调整到完全垂直；调整使两相干光自分光点至两参考镜的距离相等，出现白光零次干涉带；通过参考镜和量块工作台的调整，达到钢平晶上的干涉带平行于被测量块短边，并且被测量块上的零次干涉带通过被测量块中部的中点；测出钢平晶上的零次干涉带与被测量块中心点上零次干涉带的距离并修正。本发明方法提高了量块测量精度，不会产生粗大误差，提高测量效率，不磨损，寿命长，易于实现测量的自动化与半自动化，可以进行许多精密测量。
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公开(公告)号：CN108120499A
公开(公告)日：2018-06-05
申请号：CN201611071170.4
申请日：2016-11-29
Applicant: 中国计量大学 , 中国计量科学研究院 , 浙江华东光电仪器有限公司
IPC: G01J1/42
Abstract: 本发明提供了一种自混频太赫兹探测器响应度参数的标定装置和方法。本发明所述装置至少包括太赫兹源模块、探测器模块、平移台和夹具装置、光学镜片组、数据采集处理模块和显示模块等6部分。由于传统标准光源定标方法自身不确定度较高，且在定标过程中易引入一些无法准确测量的不确定度因素等误差，本发明的单像元场效应自混频太赫兹探测器响应度参数的标定方法和装置使用标准探测器对比的定标方法，可以对单像元太赫兹探测器实现精确定标，降低量值传递的不确定度。并通过在波路中加入监视探测器，消除波源稳定性对于传递结果的影响，使标定结果更准确。
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公开(公告)号：CN119901229A
公开(公告)日：2025-04-29
申请号：CN202410953865.3
申请日：2024-07-16
Applicant: 中国计量大学
Abstract: 本发明公开了一种大尺寸外径千分尺端面同轴性和平行度测量装置，包含激光光源、偏振分束器组件、信号探测器和四维调节机构，激光光源发出的激光束经偏振分束器组件作用后分裂成两束光，其中透射激光直接入射至信号探测器，反射激光依次经过测砧端面、偏振分束镜组件、测微螺旋端面、偏振分束镜组件后进入信号探测器。通过监测测微螺旋端面上的激光斑点偏移量测量同轴性，通过信号探测器上的激光斑点偏移量完成端面平行度测量。
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公开(公告)号：CN118483758B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202410947326.9
申请日：2024-07-16
IPC: G01V7/00 , G01B11/02 , G01B9/02015
Abstract: 本发明公开一种基于差分法珀干涉仪测量万有引力常数方法和装置，包括以下步骤：步骤S1、通过吸引质量球使检验质量块发生微位移；步骤S2、差分法珀干涉仪放大测量检验质量块的微位移；步骤S2、信号处理器根据微位移信息，得到万有引力常数值。采用本发明的技术方案，实现万有引力常数测量。
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