一种FPGA芯片高温测试方法及装置

    公开(公告)号:CN116699375B

    公开(公告)日:2024-01-19

    申请号:CN202310935807.3

    申请日:2023-07-28

    Abstract: 本发明提供了一种FPGA芯片高温测试方法及装置,通过使用常温测试板,并在常温测试板上预先存储测试数据的正确计算结果,将测试数据在高温测试板上的计算结果与常温测试板上的正确计算结果进行比对,如此,由于常温测试板与高温测试板通过并行数据线和控制信号线进行连接,并且于并行数据传输速率可以与计算时钟相同,因此通过并行数据线可以快速地将数据进行传递比对,提高了测试速度,试验表明,并行数据传输速率达到10MHz,而串行通信均在1MHz以下,传输带宽是原来100倍以上,相同测试时间内高温FPGA内计算翻转大大提升,提升了测试强度。

    CMOS相机的工作方法及装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118764729A

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN202411244584.7

    申请日:2024-09-06

    Abstract: CMOS相机的工作方法及装置,能够避免串行处理方式对数据延迟带来巨大的延迟,提高CMOS相机的灵敏度和分辨力,扩大其应用范围,解决CMOS由于曝光时间变化导致的偏振方位角偏差问题,提高图像质量和动态范围,功能多样化,降低功耗,成本低廉。方法包括:PC上位机下发命令;FPGA使用SPI协议,配置CMOS内部寄存器,使CMOS复位、采集、延时并输出采集的原始图像数据;FPGA内部配置CMOS工作时序,使CMOS按照工作模式采集图像数据;调整位之间的延时对齐,进行时钟域转换;将数据写入DDR中缓存并读取;图像数据校正、去噪、增益控制;将图像数据输出到上位机显示。

    激光陀螺锁区的数字抖动驱动控制电路及工作方法

    公开(公告)号:CN118794419A

    公开(公告)日:2024-10-18

    申请号:CN202411260370.9

    申请日:2024-09-10

    Abstract: 激光陀螺锁区的数字抖动驱动控制电路及工作方法,更接近理想的线性输出,快速起振和抖动恢复,具有高的频率跟踪精度,抖动幅度足够大且稳定,提高陀螺在变温环境下的测量精度。电路包括信号依次经过的抖动驱动控制电路、抖动驱动电路、抖动机构、谐振腔和信号整形电路;抖动驱动控制电路包括:幅度控制回路、频率控制回路、脉宽控制电路;通过四倍频鉴相计数获得机械抖动偏频量,幅度控制回路提取机械抖动偏频量并获得实时机械抖动幅度;频率控制回路提取机械抖动频率并根据频率反馈信号计算出实时机械抖动频率;脉宽控制电路将机械抖动幅度和实时机械抖动频率作为参考对象进行比对,根据机械抖动幅度基准解算出误差,再进行实时控制补偿变化量。

    激光陀螺锁区的数字抖动驱动控制电路及工作方法

    公开(公告)号:CN118794419B

    公开(公告)日:2025-04-04

    申请号:CN202411260370.9

    申请日:2024-09-10

    Abstract: 激光陀螺锁区的数字抖动驱动控制电路及工作方法,更接近理想的线性输出,快速起振和抖动恢复,具有高的频率跟踪精度,抖动幅度足够大且稳定,提高陀螺在变温环境下的测量精度。电路包括信号依次经过的抖动驱动控制电路、抖动驱动电路、抖动机构、谐振腔和信号整形电路;抖动驱动控制电路包括:幅度控制回路、频率控制回路、脉宽控制电路;通过四倍频鉴相计数获得机械抖动偏频量,幅度控制回路提取机械抖动偏频量并获得实时机械抖动幅度;频率控制回路提取机械抖动频率并根据频率反馈信号计算出实时机械抖动频率;脉宽控制电路将机械抖动幅度和实时机械抖动频率作为参考对象进行比对,根据机械抖动幅度基准解算出误差,再进行实时控制补偿变化量。

    一种FPGA芯片高温测试方法及装置

    公开(公告)号:CN116699375A

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN202310935807.3

    申请日:2023-07-28

    Abstract: 本发明提供了一种FPGA芯片高温测试方法及装置,通过使用常温测试板,并在常温测试板上预先存储测试数据的正确计算结果,将测试数据在高温测试板上的计算结果与常温测试板上的正确计算结果进行比对,如此,由于常温测试板与高温测试板通过并行数据线和控制信号线进行连接,并且于并行数据传输速率可以与计算时钟相同,因此通过并行数据线可以快速地将数据进行传递比对,提高了测试速度,试验表明,并行数据传输速率达到10MHz,而串行通信均在1MHz以下,传输带宽是原来100倍以上,相同测试时间内高温FPGA内计算翻转大大提升,提升了测试强度。

    一种提高时刻判别精度的电路结构

    公开(公告)号:CN219957858U

    公开(公告)日:2023-11-03

    申请号:CN202321124954.4

    申请日:2023-05-11

    Abstract: 本实用新型提供的一种提高时刻判别精度的电路结构,通过将当前时刻鉴别电路中的前沿时刻鉴别电路即阈值比较电路,与高通阻容时刻鉴别电路即过零时刻鉴别电路合并,充分利用了两个电路的优点,利用了前沿时刻鉴别电路可以得到满足阈值要求的有效的回波信号,利用高通阻容时刻鉴别电路可以得到时刻变化点,通过与门比较器相与后,可以得到满足阈值要求的回波信号时刻变化点,从而利用少部分的阻容器件即可实现提高时刻鉴别精度的问题。进而利用高精度的鉴别时刻来提高测距的精确度。

    一种用于提升测温精度的电路结构

    公开(公告)号:CN219830134U

    公开(公告)日:2023-10-13

    申请号:CN202321124963.3

    申请日:2023-05-11

    Abstract: 本实用新型提供了一种用于提升测温精度的电路结构,通过使用FPGA替代了传统测温电路结构中的单片机,使得可以快速地计算处理更高位宽的温度数据,从而可以增大温度的测量精度;且FPGA接口丰富,可以方便地扩展更多更复杂的功能和应用。此外还可以充分利用FPGA可重构的功能,在需要修改处理模块算法的情况下,只需要使用预先配置的码流重新对FPGA进行烧录即可,不需要更换硬件,节约了成本。

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