一种检测蚀刻用高精度引线框架材料平整度的快速方法

    公开(公告)号:CN113534612B

    公开(公告)日:2023-02-17

    申请号:CN202010306227.4

    申请日:2020-04-17

    Abstract: 一种检测蚀刻用高精度引线框架材料平整度的快速方法,工艺流程为:取样‑一次涂感光胶‑一次烘干‑一次制版‑一次曝光‑一次显影‑边部蚀刻‑去感光胶‑二次涂感光胶‑二次烘干‑二次制版‑二次曝光‑二次显影‑半蚀刻或全蚀刻‑平整度测量‑平整度评价;本发明解决了铜带出厂前预判高精度引线框架材料铜带蚀刻后平整度的难题,操作过程中喷涂、烘干、制版、蚀刻等步骤主要以机器来实现,降低了操作过程人为因素造成的影响,提高了蚀刻控制的准确性,蚀刻的效率有了很大改善,带材蚀刻后平整度的预判也更加准确,适用于大批量生产中快速预判高精度引线框架材料铜带蚀刻后平整度的方法。

    一种检测蚀刻用高精度引线框架材料平整度的快速方法

    公开(公告)号:CN113534612A

    公开(公告)日:2021-10-22

    申请号:CN202010306227.4

    申请日:2020-04-17

    Abstract: 一种检测蚀刻用高精度引线框架材料平整度的快速方法,工艺流程为:取样‑一次涂感光胶‑一次烘干‑一次制版‑一次曝光‑一次显影‑边部蚀刻‑去感光胶‑二次涂感光胶‑二次烘干‑二次制版‑二次曝光‑二次显影‑半蚀刻或全蚀刻‑平整度测量‑平整度评价;本发明解决了铜带出厂前预判高精度引线框架材料铜带蚀刻后平整度的难题,操作过程中喷涂、烘干、制版、蚀刻等步骤主要以机器来实现,降低了操作过程人为因素造成的影响,提高了蚀刻控制的准确性,蚀刻的效率有了很大改善,带材蚀刻后平整度的预判也更加准确,适用于大批量生产中快速预判高精度引线框架材料铜带蚀刻后平整度的方法。

    一种直观反映铜板带内应力的图形结构

    公开(公告)号:CN222087172U

    公开(公告)日:2024-11-29

    申请号:CN202420717244.0

    申请日:2024-04-09

    Abstract: 一种直观反映铜板带内应力的图形结构,包括试样,所述的试样为长方体结构,试样的上表面设置至少两条条状图形,所述的条状图形由倾斜的长方形的上下两端设置垂直的长方形构成,所述的垂直的长方形与倾斜的长方形相通,所述的条状图形的一端与试样的长度方向一端边部相通,条状图形的另一端与试样的长度方向另一端的边部留有距离;可以将铜及铜合金内应力直观的反映出来,满足下游客户不同制作工艺条件、型号的产品使用,准确率高、与客户验证一致性强,根据图案反映出的平整度及时调整、优化工艺,方便适用;图案设计、制作使用的材料成本投入少,制作步骤简单,操作人员易于掌握,适用于工业化大生产。

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