一种刻蚀装置
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106094269A

    公开(公告)日:2016-11-09

    申请号:CN201610446172.0

    申请日:2016-06-20

    CPC classification number: G02F1/1303

    Abstract: 本发明涉及液晶显示技术领域,公开一种刻蚀装置,用于对待刻蚀件进行刻蚀,包括下部电极以及顶针,下部电极包括电极本体,还包括形成于电极本体支撑表面的多个第一凸点结构和多个第二凸点结构,第一凸点结构和第二凸点结构交错排列,沿垂直于电极本体支撑表面的方向上,第一凸点结构的高度大于第二凸点结构的高度,当顶针将放置于下部电极上的待刻蚀件顶起时,第一凸点结构对待刻蚀件提供的摩擦力的方向背离电极本体的中心、且与电极本体的支撑表面之间呈锐角,该刻蚀装置的下部电极的耐磨性较强,使用时间较长,产品良率高。

    一种液晶面板缺陷的检测方法及装置

    公开(公告)号:CN106054421A

    公开(公告)日:2016-10-26

    申请号:CN201610608741.7

    申请日:2016-07-28

    Abstract: 本发明提供一种液晶面板缺陷的检测方法及装置,涉及显示技术领域,用以在不改变缺陷参数的情况下有效的检测出液晶面板中的聚集类缺陷。本发明的方法包括:对液晶面板图像进行AOI处理;根据处理结果确定不符合缺陷参数要求的多个待处理目标;将多个待处理目标按照预定顺序进行排列,并获取排列后的多个待处理目标中相邻两个待处理目标之间的聚集度参数;将每个聚集度参数分别和预设聚集度参数进行比较,得到多个比较结果;在多个比较结果中,若连续n个比较结果均为小于预设聚集度参数且n大于或等于预设值,则将连续n个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷,其中n为自然数。本发明主要应用在液晶面板的缺陷检测技术中。

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