光谱测定方法、光谱测定装置以及宽波段脉冲光源单元

    公开(公告)号:CN110730903A

    公开(公告)日:2020-01-24

    申请号:CN201880036736.0

    申请日:2018-06-06

    Abstract: 提供一种新的光谱测定技术,即使在被测定光仅存在非常短时间的情况下也能够进行测定。使被测定光(L0)与在脉冲内波长随时间连续地变化的宽波段脉冲光(L1)干涉,将对所发出的干涉光进行检测的检测器(5)的输出信号进行傅立叶转换,由此测定被测定光(L0)的每个波长的光强度。来自激光源(1)的激光(L2)通过非线性光学元件(2)而成为超连续光(L3),通过脉冲伸长元件(3)使其脉冲伸长而生成宽波段脉冲光(L1)。

    产品检查方法及产品检查装置

    公开(公告)号:CN113614518B

    公开(公告)日:2025-05-20

    申请号:CN202080019264.5

    申请日:2020-03-25

    Abstract: 本发明提供一种通过光测定来进行高速且高可靠性的良好与否判断的新技术。至少在1100~1300nm具有连续的光谱的超晶格光从脉冲光源(1)出射,并以一脉冲中的波长与经过时间的关系成为1对1的方式被伸长元件(2)脉冲拉伸而照射到产品(P)。透过产品(P)的光被受光器(3)接收,输出数据被输入到判断单元(7)。判断单元(7)的良好与否判断程序(43)根据输出数据计算吸收光谱,利用化学计量学进行量化而与基准值进行比较,判断良好与否。被判断为是不良品的产品(P)被排除机构(8)排除。

    片剂分光测量方法、片剂分光测量装置、片剂检查方法及片剂检查装置

    公开(公告)号:CN116018511A

    公开(公告)日:2023-04-25

    申请号:CN202180055503.7

    申请日:2021-08-05

    Inventor: 太田彩 山田刚

    Abstract: 提供一种也能够进行全数检查的高速且高精度的片剂分光测量技术。对于由移动机构(400)直线移动中的片剂(P),由脉冲光照射系统(1)照射脉冲内的经过时间与光的波长一对一地对应的脉冲光,将受光了来自片剂(P)的透射光的受光器(2)的输出经由AD变换器(21)、作为积算机构(6)的FPGA(61)输入到运算机构(3)中,计算分光透射波谱。在测量分光特性波动等的情况下,对于向不同处的多次的脉冲光照射进行分组,分别进行积分而计算分光透射波谱,进行比较。

    光谱测定方法、光谱测定装置以及宽波段脉冲光源单元

    公开(公告)号:CN110730903B

    公开(公告)日:2023-02-28

    申请号:CN201880036736.0

    申请日:2018-06-06

    Abstract: 提供一种新的光谱测定技术,即使在被测定光仅存在非常短时间的情况下也能够进行测定。使被测定光(L0)与在脉冲内波长随时间连续地变化的宽波段脉冲光(L1)干涉,将对所发出的干涉光进行检测的检测器(5)的输出信号进行傅立叶转换,由此测定被测定光(L0)的每个波长的光强度。来自激光源(1)的激光(L2)通过非线性光学元件(2)而成为超连续光(L3),通过脉冲伸长元件(3)使其脉冲伸长而生成宽波段脉冲光(L1)。

    产品检查方法及产品检查装置

    公开(公告)号:CN113614518A

    公开(公告)日:2021-11-05

    申请号:CN202080019264.5

    申请日:2020-03-25

    Abstract: 本发明提供一种通过光测定来进行高速且高可靠性的良好与否判断的新技术。至少在1100~1300nm具有连续的光谱的超晶格光从脉冲光源(1)出射,并以一脉冲中的波长与经过时间的关系成为1对1的方式被伸长元件(2)脉冲拉伸而照射到产品(P)。透过产品(P)的光被受光器(3)接收,输出数据被输入到判断单元(7)。判断单元(7)的良好与否判断程序(43)根据输出数据计算吸收光谱,利用化学计量学进行量化而与基准值进行比较,判断良好与否。被判断为是不良品的产品(P)被排除机构(8)排除。

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