公开(公告)号：CN107076613A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201580055331.8

申请日：2015-09-21

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 奥野俊明 ,  森岛哲 ,  藤本美代子

IPC: G01J3/50 ,  G01N21/359

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/50 ,  G01J2003/2826 ,  G01N21/359 ,  G01N2201/12

Abstract: 在光谱测定方法中，把来自光源的测量光照射到测量物体上，多个二维排列像素接收由于测量光的照射而从测量物体中发射出的透射光或漫反射光，从而获得多个单元区域的光谱数据，多个单元区域包括测量物体上的至少一个单元区域以及与一个单元区域相邻的单元区域，并且通过对多个单元区域中的每一个单元区域的光谱数据求平均来计算测量物体的光谱数据。此外，光谱测定装置多次(两次以上)成像测量物体的同一单元区域，并通过对从测量物体的多次成像的单元区域中得到的光谱数据进行积分和求平均来计算测量物体的光谱数据。

公开(公告)号：CN104884938A

公开(公告)日：2015-09-02

申请号：CN201380067860.0

申请日：2013-12-11

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 森岛哲 ,  菅沼宽 ,  伊藤真澄 ,  藤本美代子 ,  木村彰纪 ,  五十岚阳子

IPC: G01N21/359

CPC classification number: C12Q3/00 ,  C12P7/06 ,  C12Q1/02 ,  G01N21/359 ,  G01N33/5005 ,  G01N2021/8416 ,  Y02E50/17

Abstract: 一种有机物制造方法，通过该方法能够更适当地确定制造过程状态，该方法包括：第一步骤，通过将测定对象暴露在宽带光下，由此接收由该对象发射的透射光和散射反射光，从而获取测定对象的吸收光谱，对于该测定对象，原料或所需产物的量随制造过程的进展而改变；第二步骤，利用吸收光谱提取两个或多个指示测定对象的特征的特征量；以及第三步骤，基于所述两个或多个特征量来控制制造过程。