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公开(公告)号：CN110899988B
公开(公告)日：2021-04-23
申请号：CN201911178382.6
申请日：2019-11-27
Applicant: 佛山科学技术学院
IPC: B23K26/362 , B23K26/064 , B23K26/046 , B23K26/70
Abstract: 本发明公开了一种激光打标对焦控制方法，该方法基于激光打标对焦装置，所述装置包括：半反半透镜、激光器、扫描振镜、驱动装置、处理终端、平场聚焦透镜、升降台、低相干光源、光纤耦合器、第一准直镜、第二准直镜、光电探测器、线性移动平台和反射镜，所述激光打标对焦控制方法包括：关闭激光器，控制线性移动平台朝一个方向移动，记录光电探测器接收到光强信号时，反射镜与第二准直镜之间的距离，对比接收到的光强信号，找到信号幅值最大的光强信号，并将所述光强信号所对应的反射镜与第二准直镜之间的距离记为h，通过数学公式计算得到升降台的调整量，根据所述调整量调整升降台。本发明主要用于激光打标技术领域。
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公开(公告)号：CN110682005A
公开(公告)日：2020-01-14
申请号：CN201910981479.4
申请日：2019-10-16
Applicant: 佛山科学技术学院
IPC: B23K26/362 , B23K26/03
Abstract: 本发明公开了一种激光打标实时校正方法和控制装置，方法包括：打标前，从固定的拍摄窗口中获取打标物的图像，记为第一图像；将预设的标准模板加载到第一图像中，截取第一图像的特征区域，第一图像的特征区域记为第一特征区域；在打标进行中，实时从拍摄窗口中获取打标物的图像，记为第二图像；将标准模板加载到第二图像中，截取第二图像的特征区域，第二图像的特征区域记为第二特征区域；通过ORB快速特征点匹配算法得到第一特征区域和第二特征区域之间的偏移量；根据偏移量校正激光打标头。控制装置包括图像获取模块、图像处理模块和校正模块。通过图像处理方式对打标物进行实时检测，能够在打标过程中校正激光打标头。主要用于激光打标领域。
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公开(公告)号：CN110682005B
公开(公告)日：2021-04-27
申请号：CN201910981479.4
申请日：2019-10-16
Applicant: 佛山科学技术学院
IPC: B23K26/362 , B23K26/03
Abstract: 本发明公开了一种激光打标实时校正方法和控制装置，方法包括：打标前，从固定的拍摄窗口中获取打标物的图像，记为第一图像；将预设的标准模板加载到第一图像中，截取第一图像的特征区域，第一图像的特征区域记为第一特征区域；在打标进行中，实时从拍摄窗口中获取打标物的图像，记为第二图像；将标准模板加载到第二图像中，截取第二图像的特征区域，第二图像的特征区域记为第二特征区域；通过ORB快速特征点匹配算法得到第一特征区域和第二特征区域之间的偏移量；根据偏移量校正激光打标头。控制装置包括图像获取模块、图像处理模块和校正模块。通过图像处理方式对打标物进行实时检测，能够在打标过程中校正激光打标头。主要用于激光打标领域。
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公开(公告)号：CN109358462B
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN201811307074.4
申请日：2018-11-05
Applicant: 佛山科学技术学院
Abstract: 本发明公开了一种自动对焦的系统，包括低相干光源、光纤耦合器、参考臂光路系统、样品臂光路系统、电脑处理终端和光电探测器，所述参考臂光路系统包括第一准直镜和反射镜，所述第一准直镜和反射镜通过光线连接，所述样品臂光路系统包括相机、第二准直镜、半反半透镜和平场聚焦镜，所述第二准直镜通过半反半透镜的反射面与平场聚焦镜光线连接，所述相机用于接收所述半反半透镜的透射光；本发明基于迈克尔逊干涉仪原理设计了一种快速、精准的自动对焦的方法及系统，其对焦空间分辨率可达到微米级，使用直线运动的参考臂光路系统，能实现快速且连续的线阵光程扫描，同时受外界环境影响极小，可在各种明暗光线环境下正常使用，实用性较强。
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公开(公告)号：CN110899988A
公开(公告)日：2020-03-24
申请号：CN201911178382.6
申请日：2019-11-27
Applicant: 佛山科学技术学院
IPC: B23K26/362 , B23K26/064 , B23K26/046 , B23K26/70
Abstract: 本发明公开了一种激光打标对焦控制方法，该方法基于激光打标对焦装置，所述装置包括：半反半透镜、激光器、扫描振镜、驱动装置、处理终端、平场聚焦透镜、升降台、低相干光源、光纤耦合器、第一准直镜、第二准直镜、光电探测器、线性移动平台和反射镜，所述激光打标对焦控制方法包括：关闭激光器，控制线性移动平台朝一个方向移动，记录光电探测器接收到光强信号时，反射镜与第二准直镜之间的距离，对比接收到的光强信号，找到信号幅值最大的光强信号，并将所述光强信号所对应的反射镜与第二准直镜之间的距离记为h，通过数学公式计算得到升降台的调整量，根据所述调整量调整升降台。本发明主要用于激光打标技术领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109358462A
公开(公告)日：2019-02-19
申请号：CN201811307074.4
申请日：2018-11-05
Applicant: 佛山科学技术学院
Abstract: 本发明公开了一种自动对焦的系统，包括低相干光源、光纤耦合器、参考臂光路系统、样品臂光路系统、电脑处理终端和光电探测器，所述参考臂光路系统包括第一准直镜和反射镜，所述第一准直镜和反射镜通过光线连接，所述样品臂光路系统包括相机、第二准直镜、半反半透镜和平场聚焦镜，所述第二准直镜通过半反半透镜的反射面与平场聚焦镜光线连接，所述相机用于接收所述半反半透镜的透射光；本发明基于迈克尔逊干涉仪原理设计了一种快速、精准的自动对焦的方法及系统，其对焦空间分辨率可达到微米级，使用直线运动的参考臂光路系统，能实现快速且连续的线阵光程扫描，同时受外界环境影响极小，可在各种明暗光线环境下正常使用，实用性较强。
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公开(公告)号：CN108918529A
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201810605915.3
申请日：2018-06-13
Applicant: 佛山科学技术学院
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种透明介质的表面划痕成像检测装置及其检测方法，检测装置包括平行光源模块、第一傅里叶透镜、空间滤波模块、成像镜头、探测器模块以及数据处理模块；所述平行光源模块输出平行光束，平行光束先后通过被测样品以及第一傅里叶透镜形成汇聚光束，汇聚光束先后通过空间滤波模块以及成像镜头到达探测器模块，所述空间滤波模块置于第一傅里叶透镜的焦平面上，所述探测器模块输出端与数据处理模块输入端通信连接。本发明通过空间滤波模块，去除采集图像的背景光强干扰，做到对透明介质的表面划痕单独成像，划痕检测精度高，同时由于是对透明介质的表面划痕单独成像分析，数据处理量低，有效提高检测精度。本发明用于检测透明介质的表面划痕。
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公开(公告)号：CN210937675U
公开(公告)日：2020-07-07
申请号：CN201921738925.0
申请日：2019-10-16
Applicant: 佛山科学技术学院
IPC: B23K26/362 , B23K26/064 , B23K26/082 , B23K26/03
Abstract: 本实用新型公开了一种激光打标校正系统，包括：半反半透镜、相机、激光器、扫描振镜、驱动装置、处理终端、平场聚焦透镜和工作台，处理终端分别与相机和驱动装置通讯连接，激光器产生的激光进入扫描振镜，扫描振镜将激光输出到平场聚焦透镜中，平场聚焦透镜将激光通过半反半透镜的透射聚焦在工作台的台面上，相机用于接收半反半透镜反射出来的光信号，并将光信号转换成图像信号传递给处理终端，处理终端根据图像信号控制驱动装置，驱动装置用于驱动扫描振镜执行动作。相机获取工作台上打标物的图像，并利用处理终端对图像进行处理，从而控制扫描振镜调整激光器的光路，实现在激光打标过程中对激光束的校正。主要用于激光打标技术领域。
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公开(公告)号：CN209055782U
公开(公告)日：2019-07-02
申请号：CN201821818005.5
申请日：2018-11-05
Applicant: 佛山科学技术学院
Abstract: 本实用新型公开了一种自动对焦的系统，包括低相干光源、光纤耦合器、参考臂光路系统、样品臂光路系统、电脑处理终端和光电探测器，所述参考臂光路系统包括第一准直镜和反射镜，所述第一准直镜和反射镜通过光线连接，所述样品臂光路系统包括相机、第二准直镜、半反半透镜和平场聚焦镜，所述第二准直镜通过半反半透镜的反射面与平场聚焦镜光线连接，所述相机用于接收所述半反半透镜的透射光；本实用新型基于迈克尔逊干涉仪原理设计了一种快速、精准的自动对焦的方法及系统，其对焦空间分辨率可达到微米级，使用直线运动的参考臂光路系统，能实现快速且连续的线阵光程扫描，同时受外界环境影响极小，可在各种明暗光线环境下正常使用，实用性较强。
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公开(公告)号：CN208255081U
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201820918194.7
申请日：2018-06-13
Applicant: 佛山科学技术学院
IPC: G01N21/88
Abstract: 本实用新型公开了一种透明介质的表面划痕成像检测装置，包括平行光源模块、第一傅里叶透镜、空间滤波模块、成像镜头、探测器模块以及数据处理模块；所述平行光源模块输出平行光束，平行光束先后通过被测样品以及第一傅里叶透镜形成汇聚光束，汇聚光束先后通过空间滤波模块以及成像镜头到达探测器模块，所述空间滤波模块置于第一傅里叶透镜的焦平面上，所述探测器模块输出端与数据处理模块输入端通信连接。本实用新型通过空间滤波模块，去除采集图像的背景光强干扰，做到对透明介质的表面划痕单独成像，划痕检测精度高，同时由于是对透明介质的表面划痕单独成像分析，数据处理量低，有效提高检测精度。本实用新型用于检测透明介质的表面划痕。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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