记录介质
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102336083B

    公开(公告)日:2014-01-22

    申请号:CN201110196315.4

    申请日:2011-07-14

    CPC classification number: B41M5/5218 B41M5/52 B41M5/5227 B41M5/5254

    Abstract: 记录介质在基材上包括墨接受层,其中该墨接受层含有水合氧化铝、C1-4烷基磺酸和通式(1):X1-R1-(S)n-R2-X2的化合物的盐,其中n表示1或2;X1和X2各自独立地表示H、NH2或COOH,并且X1和X2的至少一个表示NH2或COOH;R1和R2各自独立地表示亚烷基、亚芳基或亚杂芳基,并且它们可彼此键合以形成环,设C1-4烷基磺酸的比例为A质量%,相对于水合氧化铝时,A在1.0-2.0的范围内,并且设通式(1)的化合物的盐的比例为B质量%,相对于水合氧化铝时,B在0.5-5.0的范围内。

    记录介质
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103568617B

    公开(公告)日:2015-06-10

    申请号:CN201310344109.2

    申请日:2013-08-08

    CPC classification number: B41M5/502 B41M5/506 B41M5/52 B41M5/5218 B41M2205/42

    Abstract: 本发明涉及记录介质。一种记录介质依次包括支持体、包含第一无机颗粒和第一粘结剂的第一墨接收层、包含第二无机颗粒和第二粘结剂的第二墨接收层以及作为最外表面层并包含第三无机颗粒、第三粘结剂和不同于所述第三无机颗粒且具有1.0至20.0μm的平均二次粒径的颗粒的第三墨接收层。所述第一粘结剂的含量与所述第一无机颗粒的含量的质量比大于第二粘结剂的含量与第二无机颗粒的含量的质量比。所述具有特定平均二次粒径的颗粒的含量相对于所述第三无机颗粒的含量为0.5质量%以上。

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