晶圆裂纹检测装置和检测方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118533860A

    公开(公告)日:2024-08-23

    申请号:CN202410620049.0

    申请日:2024-05-17

    Abstract: 本申请提供一种晶圆裂纹检测装置和检测方法,所述装置包括:遮光罩;检测组件,位于所述遮光罩内,所述检测组件包括相对设置的光敏传感器和光源,所述光敏传感器和光源之间有间隔,所述间隔用于容待检测晶圆伸入;其中,所述待检测晶圆包括待检测区域,所述光敏传感器的中轴线与所述光源的中轴线交汇于所述待检测区域内。若待检测区域内存在裂纹,那么光源发出的光线会经裂纹界面反射后进入光敏传感器中,使得光敏传感器的输出信息与常规信息不同,如此基于获取到的光敏传感器的输出信息就可以准确检测晶圆是否存在裂纹,检测效率、检测精度和准确性均较高,并且,光敏传感器和光源均不会直接接触晶圆,确保晶圆的清洁度。

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