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发明公开
一种物体双侧端面相对三维角位移、变形测量方法和装置审中-实审

公开(公告)号：CN118623802A

公开(公告)日：2024-09-10

申请号：CN202410734546.3

申请日：2024-06-07

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 , 李浩 , 李伟仙 , 李仁豪 , 牛海莎 , 司娟宁 , 苏信晨

IPC: G01B11/26 , G01B11/16

Abstract: 本申请实施例公开了一种物体双侧端面相对三维角位移、变形测量方法和装置，所述方法包括：基于两个双光束照明数字散斑干涉光路，测量物体第一端面运动和变形所引起的第一离面相位图和第一面内相位图，同步测量第二端面运动和变形所引起的第二离面相位图和第二面内相位图；根据所述第一离面相位图、第一面内相位图、第二离面相位图和第二面内相位图，确定物体双侧端面的相对俯仰角、相对偏摆角、相对滚转角，以及确定双侧端面各自的变形分布。本申请提供的技术方案可以有效测量物体双侧端面的相对三维角位移及变形。

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