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公开(公告)号:CN112530846B
公开(公告)日:2024-06-21
申请号:CN202011381391.8
申请日:2020-12-01
Applicant: 北京北方华创微电子装备有限公司
IPC: H01L21/673 , H01L21/677 , H01L21/67
Abstract: 本发明公开一种承载盘及控温装置,所述承载盘的中心位置设有安装孔,所述承载盘包括用于与所述半导体设备中反应腔接触密封的密封面,所述承载盘中还设置有环绕所述安装孔设置的气道,所述承载盘背离所述密封面的一面设有进气口和出气口,所述进气口和所述出气口均与所述气道连通,根据预设条件,预设温度的控温气体可自所述进气口被送入所述气道内,且自所述出气口被排出。上述承载盘可以适应于晶圆的加工工艺,防止承载盘及安装于承载盘上的部件等被腐蚀,污染晶圆,保证工艺的正常进行。
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公开(公告)号:CN112530846A
公开(公告)日:2021-03-19
申请号:CN202011381391.8
申请日:2020-12-01
Applicant: 北京北方华创微电子装备有限公司
IPC: H01L21/673 , H01L21/677 , H01L21/67
Abstract: 本发明公开一种承载盘及控温装置,所述承载盘的中心位置设有安装孔,所述承载盘包括用于与所述半导体设备中反应腔接触密封的密封面,所述承载盘中还设置有环绕所述安装孔设置的气道,所述承载盘背离所述密封面的一面设有进气口和出气口,所述进气口和所述出气口均与所述气道连通,根据预设条件,预设温度的控温气体可自所述进气口被送入所述气道内,且自所述出气口被排出。上述承载盘可以适应于晶圆的加工工艺,防止承载盘及安装于承载盘上的部件等被腐蚀,污染晶圆,保证工艺的正常进行。
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