承载盘及控温装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112530846B

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202011381391.8

    申请日:2020-12-01

    Abstract: 本发明公开一种承载盘及控温装置,所述承载盘的中心位置设有安装孔,所述承载盘包括用于与所述半导体设备中反应腔接触密封的密封面,所述承载盘中还设置有环绕所述安装孔设置的气道,所述承载盘背离所述密封面的一面设有进气口和出气口,所述进气口和所述出气口均与所述气道连通,根据预设条件,预设温度的控温气体可自所述进气口被送入所述气道内,且自所述出气口被排出。上述承载盘可以适应于晶圆的加工工艺,防止承载盘及安装于承载盘上的部件等被腐蚀,污染晶圆,保证工艺的正常进行。

    承载盘及控温装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112530846A

    公开(公告)日:2021-03-19

    申请号:CN202011381391.8

    申请日:2020-12-01

    Abstract: 本发明公开一种承载盘及控温装置,所述承载盘的中心位置设有安装孔,所述承载盘包括用于与所述半导体设备中反应腔接触密封的密封面,所述承载盘中还设置有环绕所述安装孔设置的气道,所述承载盘背离所述密封面的一面设有进气口和出气口,所述进气口和所述出气口均与所述气道连通,根据预设条件,预设温度的控温气体可自所述进气口被送入所述气道内,且自所述出气口被排出。上述承载盘可以适应于晶圆的加工工艺,防止承载盘及安装于承载盘上的部件等被腐蚀,污染晶圆,保证工艺的正常进行。

Patent Agency Ranking