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公开(公告)号：CN102662195B
公开(公告)日：2014-11-26
申请号：CN201210157517.2
申请日：2012-05-18
Applicant: 北京国电经纬工程技术有限公司 , 中国科学院电子学研究所
IPC: G01V3/12
Abstract: 本发明提供了一种地下空洞探测系统，用以解决现有技术中不能同时满足探测深度和分辨率要求的问题。该地下空洞探测系统包括：信号发射装置，用于向被测区域的地面发射不同频率的多路探测信号；信号接收装置，用于获取对应于多路探测信号的多路反射回波信号；采集装置，与信号接收装置连接，用于接收多路反射回波信号，并将多路反射回波信号分别转换为回波数据，采用本发明的技术方案，可以利用不同频率的多路探测信号由地下各层介质反射的反射回波信号进行地下空洞的探测，既可以利用较低频率信号保证探测深度，又可以利用较高频率信号获得相对较高的分辨率，从而同时满足了探测深度和分辨率的要求。
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公开(公告)号：CN102662195A
公开(公告)日：2012-09-12
申请号：CN201210157517.2
申请日：2012-05-18
Applicant: 北京国电经纬工程技术有限公司 , 中国科学院电子学研究所
IPC: G01V3/12
Abstract: 本发明提供了一种地下空洞探测系统，用以解决现有技术中不能同时满足探测深度和分辨率要求的问题。该地下空洞探测系统包括：信号发射装置，用于向被测区域的地面发射不同频率的多路探测信号；信号接收装置，用于获取对应于多路探测信号的多路反射回波信号；采集装置，与信号接收装置连接，用于接收多路反射回波信号，并将多路反射回波信号分别转换为回波数据，采用本发明的技术方案，可以利用不同频率的多路探测信号由地下各层介质反射的反射回波信号进行地下空洞的探测，既可以利用较低频率信号保证探测深度，又可以利用较高频率信号获得相对较高的分辨率，从而同时满足了探测深度和分辨率的要求。
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公开(公告)号：CN111257869B
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN202010073002.9
申请日：2020-01-21
Applicant: 中国科学院电子学研究所
Abstract: 一种成像装置，应用于三维成像技术领域，包括：扫描装置和计算装置，所述扫描装置，用于根据预设坐标轴的方向扫描目标，并获取所述目标垂直于所述预设坐标轴的所有平面上的回波数据，所述计算装置，用于将垂直于所述预设坐标轴的每个平面上的回波数据分别进行二维成像，得到垂直于所述预设坐标轴的所有平面的二维图像，以及，将垂直于所述预设坐标轴的所有平面的二维图像进行拼接，得到所述目标的三维图像。本申请还公开了一种成像方法、电子设备及存储介质，可实时成像，降低数据处理的复杂度，缩短数据处理时间。
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公开(公告)号：CN110806590B
公开(公告)日：2021-11-26
申请号：CN201911123974.8
申请日：2019-11-14
Applicant: 中国科学院电子学研究所
Abstract: 本公开提供一种太赫兹主、被动复合成像准光学扫描系统，包括：主动成像发射线阵，发射第一太赫兹信号；第一反射镜，反射第一太赫兹信号；聚焦透镜，为双曲型平凸聚焦透镜，聚焦第一反射镜反射后的第一太赫兹信号；第二反射镜，将聚焦透镜聚焦后的第一太赫兹信号反射至待成像目标生成回波信号；主动成像接收线阵，接收回波信号并处理得到回波信号的幅度与相位信息；极化线栅，将待成像目标自身辐射出的、经第二反射镜反射进入聚焦透镜聚焦后再经第一反射镜反射后的第二太赫兹信号反射至被动成像辐射计阵列，同时透过回波信号；主动成像发射线阵与接收线阵之间设置有分束器和吸波板实现第一太赫兹信号的收、发隔离；实现太赫兹主、被动复合成像。
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公开(公告)号：CN110929375B
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN201910990550.5
申请日：2019-10-17
Applicant: 中国科学院电子学研究所
IPC: G06F30/20 , G06F17/15 , G06F17/11 , G06F111/10
Abstract: 本公开提供一种基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法，包括：步骤S1：仿真分析标准透镜聚焦效果；步骤S2：采用射线追迹法优化透镜曲线；以及步骤S3：采用二维矩量法仿真分析验证标准透镜的聚焦效果；所述步骤S1包括如下子步骤：步骤S11：高斯波束的二维化处理；以及步骤S12：矩量法仿真分析介质透镜。所述基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法能够有效提高透镜仿真、优化设计的效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110554387B
公开(公告)日：2021-04-09
申请号：CN201910835644.5
申请日：2019-09-04
Applicant: 中国科学院电子学研究所
Abstract: 一种综合孔径干涉近场主动源成像方法和装置，该方法包括对散射目标进行照射并接收散射回波信号；将不同接收单元接收到的回波信号作互相关处理，得到互相关函数；对近场的相位曲面曲率进行校正，得到修正的互相关函数；对修正的互相关函数进行傅里叶变换得到目标亮度函数；将目标亮度函数变换到空间直角坐标系中，即得到目标所在位置。本发明利用空间波数域基线矢量的对称性扩大综合孔径保证较高的方位向分辨率，利用快速傅里叶变换关系保证方法的计算效率，从而实现了高分辨率和高时效性的成像方法。
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公开(公告)号：CN110554383B
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN201910835645.X
申请日：2019-09-04
Applicant: 中国科学院电子学研究所
Abstract: 一种用于微波频段的MIMO环形阵列方位向成像方法及装置，该方法包括设置MIMO环形阵列；对放置在MIMO环形阵列中的二维目标进行照射并接收散射回波；对接收到的散射回波进行二维傅里叶变换，得到空间谱域结果；对所述散射回波信号进行聚焦，得到聚焦后的谱域结果；对聚焦后的谱域结果进行二维逆傅里叶变换，得到空间域内的目标函数；对所得的空间域内的目标函数进行数据整合，得到直角坐标系下的目标函数；根据所得的直角坐标系下的目标函数得到目标反射系数函数，由此实现MIMO环形阵列方位向成像。本发明通过基于该阵列的快速成像方法，可实现目标高质量、高效率的方位向成像。
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公开(公告)号：CN110823832B
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN201911152487.4
申请日：2019-11-20
Applicant: 中国科学院电子学研究所
IPC: G01N21/3586
Abstract: 一种基于暗场成像的太赫兹成像方法及装置，该方法包括准直的太赫兹波束经目标透射后得到第一透射波束；第一透射波束传播距离f后经第一透镜调制后得到第二透射波束；第二透射波束传播距离f后经过频谱面的波束挡板后得到第三透射波束；第三透射波束传播距离f后经第二透镜调制后得到第四透射波束；第四透射波束传播距离f后被太赫兹相机接收后成像。本发明将暗场成像技术引入到太赫兹成像中，结合暗场成像可实现高对比度成像的特点，从而实现太赫兹高对比度成像。
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公开(公告)号：CN110687680B
公开(公告)日：2021-02-23
申请号：CN201810727789.9
申请日：2018-07-04
Applicant: 中国科学院电子学研究所
Abstract: 一种透镜的优化方法，包括以下步骤：选择物平面上的9个特殊点作为优化目标点，将目标点对应的最佳成像质量参数对作为优化目标输入光学仿真软件；在参数对的权重相同的时候在软件中进行优化，增大优化后的结果与目标值差异较大的目标权重；根据优化结果，更改差距较大目标参数对，再次调节权重；改善9个点成像质量；仿真验证是否达到优化目的，确认透镜优化参数值。本发明的透镜的优化方法采用物理光学传播方法，通过选择九个特殊物平面点，定义相关的成像质量评价函数，实现了两个维度的成像质量的最优，具有极强的适用性与快速性，对于实现大视场成像、保证两维度成像质量、实现高帧率高分辨成像有着重要价值。
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公开(公告)号：CN110672875B
公开(公告)日：2021-02-23
申请号：CN201911003346.6
申请日：2019-10-21
Applicant: 中国科学院电子学研究所
Abstract: 一种基于Chirp‑Z变换的表面水流速度检测方法，包括如下步骤：输入多普勒雷达信号，所述多普勒雷达信号来源于连续波雷达的回波，经过前端滤波和下变频后的基带信号的数字化采样；对输入的多普勒雷达信号进行信号预处理；使用预处理后的数据进行N点快速傅里叶变换，粗略计算频率点；在所述频率点附近取一区间，对所述区间进行Chirp‑Z变换频谱细化，计算水面速度；将计算得到的水面速度输入到卡尔曼滤波器中，以平滑速度数据，由此得到所述的表面水流速度。本发明方法使用Chirp‑Z变换进行频谱细化，减少了离散傅里叶变换带来的栅栏效应，提高了频率的准确度，间接提高速度信息的精度。
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