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公开(公告)号：CN101299024B
公开(公告)日：2010-09-08
申请号：CN200810106087.5
申请日：2008-05-08
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明公开了一种基于光纤和纳米操纵器的纳米材料光学表征方法及其系统，属于纳米材料光学表征和纳光电子器件测试领域。本发明的方法为通过光纤探头和纳米操纵器结合实现将纳米材料的发光从发光局域导入光分析仪器，或者将光源发光导入纳米材料局域的方法，本发明的系统包括显微镜、光分析仪和/或光源、纳米操纵器、光纤探头、样品台和/或探针；本发明的方法具有角度分辨能力；该系统对选定的微区进行光激励或光分析，占用空间小、具有较大的灵活性；同时该系统可以与多种显微、表征手段结合形成纳米材料和器件的综合测试平台。
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公开(公告)号：CN101299024A
公开(公告)日：2008-11-05
申请号：CN200810106087.5
申请日：2008-05-08
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明公开了一种基于光纤和纳米操纵器的纳米材料光学表征方法及其系统，属于纳米材料光学表征和纳光电子器件测试领域。本发明的方法为通过光纤探头和纳米操纵器结合实现将纳米材料的发光从发光局域导入光分析仪器，或者将光源发光导入纳米材料局域的方法，本发明的系统包括显微镜、光分析仪和/或光源、纳米操纵器、光纤探头、样品台和/或探针；本发明的方法具有角度分辨能力；该系统对选定的微区进行光激励或光分析，占用空间小、具有较大的灵活性；同时该系统可以与多种显微、表征手段结合形成纳米材料和器件的综合测试平台。
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公开(公告)号：CN101672783A
公开(公告)日：2010-03-17
申请号：CN200910235520.X
申请日：2009-09-29
Applicant: 北京大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明公开了一种单根一维纳米材料光致荧光角度分辨测量系统，属于纳米材料光学表征技术领域。本发明系统包括光源，光学器件一，光学器件二，和光分析仪器；来自光源的激发光经光学器件一后激发一维纳米材料发射荧光，荧光经过光学器件二后传递至光分析仪器；其特征在于，光学器件一和光学器件二其一为显微物镜，另一为会聚透镜，或两者均为显微物镜。在该系统中，光学器件二固定，纳米材料的c轴和光学器件二的光轴的夹角与纳米材料的c轴和光学器件一的光轴的夹角其一固定，另一可变。本发明可用于研究光激发对单根一维纳米材料光致荧光的影响。
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公开(公告)号：CN101811662A
公开(公告)日：2010-08-25
申请号：CN201010124688.6
申请日：2010-03-12
Applicant: 北京大学
IPC: B82B3/00
Abstract: 本发明公开了一种小尺度光学微腔制备方法，属于光学微腔制备领域。本发明的方法为：1)采用微纳米结构制备方法获得所选材料的纳米线或纳米棒；2)选取所需的纳米线或纳米棒并确定切割线的宽度和位置；3)根据2)所确定的切割线宽度和位置，利用微纳米加工方法对选定的纳米线或纳米棒进行切割，得到所需的光学微腔。与现有技术相比，本发明可以获得腔尺寸更小且腔尺寸精确可控的光学微腔，而且方法流程实现简单有效。
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公开(公告)号：CN101811662B
公开(公告)日：2013-05-29
申请号：CN201010124688.6
申请日：2010-03-12
Applicant: 北京大学
IPC: B82B3/00
Abstract: 本发明公开了一种小尺度光学微腔制备方法，属于光学微腔制备领域。本发明的方法为：1)采用微纳米结构制备方法获得所选材料的纳米线或纳米棒；2)选取所需的纳米线或纳米棒并确定切割线的宽度和位置；3)根据2)所确定的切割线宽度和位置，利用微纳米加工方法对选定的纳米线或纳米棒进行切割，得到所需的光学微腔。与现有技术相比，本发明可以获得腔尺寸更小且腔尺寸精确可控的光学微腔，而且方法流程实现简单有效。
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