上面级单机正弦扫描试验条件精细化设计方法

    公开(公告)号:CN105628416A

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201410637581.X

    申请日:2014-11-06

    Abstract: 本发明公开了一种上面级单机正弦扫描试验条件精细化设计方法,采用理论和试验结合的方法,将星箭载荷耦合分析结果中上面级/火箭界面加速度的作为外力函数、上面级系统级正弦扫描试验单机处加速度响应与激励比值作为传递特性,将两者相乘,并取指定倍数的安全系数,得出单机最大环境包络。此方法可给出不同频率处对应的环境包络,试验条件更为精细,从而避免了环境条件设计的严酷性,同时试验条件较准确且有一定的余量。且本发明中系统级正弦扫描试验数据处理、试验条件包络均可采用数据化批量处理,有效提高了力学环境条件设计的效率和精细程度。

    上面级单机正弦扫描试验条件精细化设计方法

    公开(公告)号:CN105628416B

    公开(公告)日:2017-12-22

    申请号:CN201410637581.X

    申请日:2014-11-06

    Abstract: 本发明公开了一种上面级单机正弦扫描试验条件精细化设计方法,采用理论和试验结合的方法,将星箭载荷耦合分析结果中上面级/火箭界面加速度的作为外力函数、上面级系统级正弦扫描试验单机处加速度响应与激励比值作为传递特性,将两者相乘,并取指定倍数的安全系数,得出单机最大环境包络。此方法可给出不同频率处对应的环境包络,试验条件更为精细,从而避免了环境条件设计的严酷性,同时试验条件较准确且有一定的余量。且本发明中系统级正弦扫描试验数据处理、试验条件包络均可采用数据化批量处理,有效提高了力学环境条件设计的效率和精细程度。

    一种应用于短波主被动一体化雷达的电离层虚高估计方法

    公开(公告)号:CN116243305A

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202310358441.8

    申请日:2023-04-06

    Abstract: 本发明涉及一种应用于短波主被动一体化雷达的电离层虚高估计方法,包括:1:一体化探测系统接收到主动雷达探测回波和被动雷达探测回波,主被动探测通道分别进行距离、速度和方位分选,分别获得主动雷达点迹量测集合和被动雷达点迹量测集合;2:在两个量测集合中分别对应地取出一组点,假定为匹配点计算电离层虚高;3:根据计算得到的电离层虚高将主动雷达量测、被动雷达量测转化至东北天坐标系;4:对转换后的量测集合采用门限法进行全局匹配,得到匹配结果,根据匹配结果计算代价函数值;5:分别遍历两个量测集合,重复过程2、3、4,将代价函数最小时对应的电离层虚高作为探测环境中电离层虚高。本发明用于高频超视距雷达信号处理领域。

Patent Agency Ranking