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公开(公告)号：CN117232663A
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202311110184.2
申请日：2023-08-30
Applicant: 北京强度环境研究所
Inventor： 王成亮 , 武小峰 , 符泰然 , 李嘉伟 , 何鑫炜 , 王伟 , 曹志伟 , 何振威 , 赵洁 , 刘宇轩 , 甄雷兴 , 谢新杨 , 温东翰 , 何钦华 , 邱恒斌 , 程俊 , 郑毅 , 徐宁 , 王晓帆 , 陈翠圆 , 孙毅
Abstract: 本发明公开了一种辐射温度误差测量装置及方法，其中，该装置包括：平板试件、标准红外测温组合、待检红外测温仪、第一加热器和第二加热器；其中，平板试件的内部开设两个圆柱腔体，一个圆柱腔体为第一等效黑体，另一个圆柱腔体为第二等效黑体；标准红外测温组合设置于平板试件的外侧；第一加热器设置于平板试件的一侧，第二加热器设置于平板试件的另一侧，第一加热器和第二加热器相对，第一加热器和第二加热器用于对平板试件加热；待检红外测温仪设置于第二加热器远离平板试件的一侧。本发明规避了加热器辐射光干扰以及目标发射率变化对测温基准的影响，进而实现了辐射加热环境下对红外测温仪的准确测温误差。
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公开(公告)号：CN119573892A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411767120.4
申请日：2024-12-04
Abstract: 本发明提供一种瞬态辐射加热环境下基于热流传感器的多光谱测温反射光表征校准装置及方法，装置包括：水冷辐射体、多光谱测温仪、加热器、热流传感器及支撑装置。建立基于热流传感器为索引的加热器反射光干扰的光谱辐射亮度矩阵数据库。试验过程中，根据热流传感器测试的空间热流值，通过上述数据库可以实时获取加热器反射光干扰，结合材料的光谱发射率模型，便可在算法中实时去除加热器反射光干扰，从而能够获取热结构表面的真实温度。本发明解决了瞬态辐射加热环境下加热器反射光干扰表征及实时修正的问题，提升了测温精度。
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公开(公告)号：CN119509713A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411755500.6
申请日：2024-12-03
IPC: G01J5/80
Abstract: 本发明提供一种瞬态辐射加热环境下基于红外传感器的多光谱测温反射光表征校准装置及方法，该装置包括：水冷辐射体、多光谱测温仪、加热器、红外传感器及支撑装置。建立基于红外光电流信号为索引的加热器反射光干扰的光谱辐射亮度矩阵数据库。试验过程中，根据红外传感器测试的加热元件光电流，通过上述数据库可以实时获取加热器反射光干扰，结合材料的光谱发射率模型，便可在算法中实时去除加热器反射光干扰，从而能够获取热结构表面的真实温度。本发明解决了瞬态辐射加热环境下加热器反射光干扰表征及实时修正的问题，提升了测温精度。
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公开(公告)号：CN220670726U
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202322351234.8
申请日：2023-08-30
Applicant: 北京强度环境研究所
Inventor： 王成亮 , 武小峰 , 符泰然 , 李嘉伟 , 何鑫炜 , 王伟 , 曹志伟 , 何振威 , 赵洁 , 刘宇轩 , 甄雷兴 , 谢新杨 , 温东翰 , 何钦华 , 邱恒斌 , 程俊 , 郑毅 , 徐宁 , 王晓帆 , 陈翠圆 , 孙毅
Abstract: 本发明公开了一种辐射温度误差测量装置，其中，该装置包括：平板试件、标准红外测温组合、待检红外测温仪、第一加热器和第二加热器；其中，平板试件的内部开设两个圆柱腔体，一个圆柱腔体为第一等效黑体，另一个圆柱腔体为第二等效黑体；标准红外测温组合设置于平板试件的外侧；第一加热器设置于平板试件的一侧，第二加热器设置于平板试件的另一侧，第一加热器和第二加热器相对，第一加热器和第二加热器用于对平板试件加热；待检红外测温仪设置于第二加热器远离平板试件的一侧。本发明规避了加热器辐射光干扰以及目标发射率变化对测温基准的影响，进而实现了辐射加热环境下对红外测温仪的准确测温误差。
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