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公开(公告)号：CN119827850A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411966082.5
申请日：2024-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种用于场均匀面测试的测试系统，包括：探头支撑装置以及软件控制设备，探头支撑装置包括：机械结构和控制器，其中，机械结构，设置为使探头在辐射天线主波束覆盖的空间范围内行进和驻留，以获取辐射空间内各测试点位的场强；控制器，与机械结构通信连接，设置为对机械结构进行控制；软件控制设备，与控制器连接，设置为运行扫描架控制软件以及场均匀性测试软件，扫描架控制软件用于设置机械结构的运动参数，场均匀性测试软件用于根据辐射空间内各测试点位的场强对辐射空间内的场均匀性进行测试。本申请解决了现有的场均匀性测量方法所使用的探头支撑装置常用在与辐射源固定距离下的定位，不具备自动更换扫描位置的扫描功能的问题。
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