一种用于场均匀面测试的测试系统

    公开(公告)号:CN119827850A

    公开(公告)日:2025-04-15

    申请号:CN202411966082.5

    申请日:2024-12-30

    Abstract: 本申请公开了一种用于场均匀面测试的测试系统,包括:探头支撑装置以及软件控制设备,探头支撑装置包括:机械结构和控制器,其中,机械结构,设置为使探头在辐射天线主波束覆盖的空间范围内行进和驻留,以获取辐射空间内各测试点位的场强;控制器,与机械结构通信连接,设置为对机械结构进行控制;软件控制设备,与控制器连接,设置为运行扫描架控制软件以及场均匀性测试软件,扫描架控制软件用于设置机械结构的运动参数,场均匀性测试软件用于根据辐射空间内各测试点位的场强对辐射空间内的场均匀性进行测试。本申请解决了现有的场均匀性测量方法所使用的探头支撑装置常用在与辐射源固定距离下的定位,不具备自动更换扫描位置的扫描功能的问题。

    用于拓宽通风波导窗屏蔽效能的拓宽部件及其设计方法

    公开(公告)号:CN114615873A

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202210159535.8

    申请日:2022-02-22

    Abstract: 本发明公开一种用于拓宽通风波导窗屏蔽效能的拓宽部件及其设计方法,涉及通风波导窗屏蔽效能拓宽技术领域,以解决无法在不损坏屏蔽体结构和不降低通风效果的前提下拓宽屏蔽效能的问题。所述拓宽部件为空心结构,且拓宽部件的两端均为开口。拓宽部件的连接端固定安装于通风波导窗的连接面,且连接端处的中空径截面完全覆盖连接面。拓宽部件由若干个L型波导管组装而成,L型波导管的数量以及尺寸由待拓宽屏蔽效能值所决定,进而利用所提供的拓宽部件对现有的通风波导窗进行改造升级,在提高通风波导窗的屏蔽效能的同时又不降低通风效果,还能不破坏原有屏蔽体的结构。本发明提供的拓宽部件及其设计方法用于拓宽屏蔽效能。

    一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法及装置

    公开(公告)号:CN110967562A

    公开(公告)日:2020-04-07

    申请号:CN201911182877.6

    申请日:2019-11-27

    Abstract: 本申请公开了一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法及装置。所述方法包括以下步骤:将电场传感器布置在第1个测试点;向所述电场传感器输入测试信号,直到所述电场传感器显示场强等于指定场强;保持所述信号频率不变,依次将所述电场传感器布置在第1个测试点四周的第2至N个测试点;计算所述电场传感器在所述第2至N个测试点显示的场强与所述指定场强的差值;调整所述第2至N个测试点与所述第1个测试点的间距,重复前述步骤,直到所述差值小于或等于指定差值。所述装置包括信号源、功率放大器、天线、电场感应单元、金属接地平板。本申请实现准确测量和确定符合均匀域要求的辐射敏感度试验场。

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