公开(公告)号：CN116338428A

公开(公告)日：2023-06-27

申请号：CN202310267673.2

申请日：2023-03-16

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 孙云龙 ,  张学磊 ,  孙昕 ,  原义栋 ,  李思琦

IPC: G01R31/28 ,  H04L12/40 ,  H04L69/08

Abstract: 本公开涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种基于控制器域网CAN总线的芯片测试方法、装置，应用于与至少两个芯片测试板连接的CAN测试盒，所述方法包括：接收第一开始测试指令，第一测试指令包括身份识别标识，且第一开始测试指令用于指示身份识别标识指示的目标芯片测试板开始测试目标任务；响应于第一开始测试指令，将第一开始测试指令转换为遵循CAN总线协议的第二开始测试指令，目标芯片测试板为至少两个芯片测试板中的芯片测试板；通过CAN总线发送第二开始测试指令。该方法可以通过CAN总线将遵循CAN总线协议的开始测试指令传输至至少两个芯片测试板以进行测试，从而可以实现批量芯片测试且测试线路简洁，也降低了测试成本。

公开(公告)号：CN116578157A

公开(公告)日：2023-08-11

申请号：CN202310511145.7

申请日：2023-05-08

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 张学磊 ,  杨旭浩 ,  孙云龙 ,  温立国 ,  刘雨峰 ,  李思琦 ,  平爱军

IPC: G05F1/567

Abstract: 本发明涉及芯片测试技术领域，其实施方式提供了一种BMS芯片基准电压的自修调系统、方法及电子设备。其中一种BMS芯片基准电压的自修调系统，包括：ATE测试机和测试芯片，所述测试芯片包括：基准电压模块、功率模块、电压采集电路、电压比较单元电路以及逻辑控制电路；所述基准电压模块用于根据电压输出指令、第一修调配置系数和第二修调配置系数输出对应的基准电压；所述逻辑控制电路用于根据所述比较结果调整所述第一修调配置系数和/或第二修调配置系数。本发明提供的实施方式能够实现自动标定，提升测试效率。