公开(公告)号：CN118501519A

公开(公告)日：2024-08-16

申请号：CN202410567248.X

申请日：2024-05-09

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 陈博峰 ,  王峻 ,  张祖兵 ,  郑利斌 ,  王洪勉 ,  赵猛 ,  孙海鹏 ,  郭伟平 ,  刘彤蕾

IPC: G01R1/28 ,  G01R1/02 ,  G01R31/00 ,  G01R31/327

Abstract: 本发明公开了一种通断设备测试方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：通过目标接口读取所述通断设备的设备标识信息；根据所述通断设备的设备标识信息与所述通断设备建立通信连接；根据所述通断设备的设备标识信息确定目标数据，并向所述通断设备发送所述目标数据，以使所述通断设备根据所述目标数据进行测试，其中，所述目标数据包括：初始化参数、第一参数采样指令以及第一参数校准指令，所述第一参数包括：电压、电流、有功比差以及角差中的至少一种，通过本发明的技术方案，能够提升通断设备测试效率和准确度。