公开(公告)号：CN108841329A

公开(公告)日：2018-11-20

申请号：CN201810669839.2

申请日：2018-06-26

Applicant: 首都师范大学 ,  北京理工大学

Inventor： 朱溢佞 ,  裴闻喜 ,  张慧滔 ,  张朋 ,  周书红 ,  王姗姗

IPC: C09G1/02 ,  B24B1/00

Abstract: 本发明实施例公开了一种制备纳米胶体有机复合抛光液的方法，通过下述重量份的原料制备所述纳米胶体有机复合抛光液：乙二醇乙酯：80重量份；纳米二氧化硅：5重量份；表面活性剂：M重量份；分散剂：1重量份；去离子水：N重量份；稳定剂：2重量份；pH调节剂：5重量份；其中，M为2-6，N为1-5，且所述原料均允许0.1重量份以内的误差。本发明实施例还公开了使用上述方法制备的纳米胶体有机复合抛光液对掺铊碘化铯晶体进行抛光的方法，可以得到表面粗糙度为10nm以下的掺铊碘化铯晶体。

公开(公告)号：CN111272083B

公开(公告)日：2021-02-26

申请号：CN202010211633.2

申请日：2020-03-24

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 王姗姗 ,  徐博文 ,  周书红 ,  张南生 ,  郝群 ,  胡摇

IPC: G01B11/02 ,  G01M11/00 ,  G01M11/02

Abstract: 本发明涉及一种离轴抛物面镜离轴量的测量装置及测量方法，属于光学元器件测量技术领域。本发明针对背面垂直于光轴的离轴抛物面镜，基于激光干涉仪和激光器，利用光的直线传播原理，分别定位离轴抛物面镜机械中心和抛物面镜光轴的位置，通过对两个位置距离的测量，实现对离轴抛物面离轴量的测量。本发明能够实现在一般光学实验室中即可方便有效、高效快速的完成离轴量测量，同时，降低了测量装置的复杂性。

公开(公告)号：CN117190883A

公开(公告)日：2023-12-08

申请号：CN202311119524.8

申请日：2023-09-01

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 周书红 ,  王姗姗 ,  张南生 ,  朱秋东 ,  胡摇 ,  郝群

IPC: G01B11/06

Abstract: 本发明公开了一种双光源/双通道平板玻璃厚度不一致性检测装置，包括双光源组件、前置干涉仪组件、激光监测通道组件和主干涉仪；所述双光源组件采用激光光源和短相干LED光源；所述前置干涉仪组件，包括可调反射镜、第二λ/4波片、第二偏振分光棱镜、第三λ/4波片、第一λ/4波片、移相板、补偿板和固定反射镜；所述激光监测通道组件，包括激光光源滤色片、第一会聚透镜、第二准直透镜和第一面阵探测器；所述主干涉仪，包括第三偏振分光棱镜、第四λ/4波片、第二会聚透镜、第三准直透镜、被测平板玻璃、载物台、第二面阵探测器、第四准直透镜、第三会聚透镜、LED光源滤色片。本发明的检测装置，能够满足平板玻璃厚度不一致性检测需求。

公开(公告)号：CN108841329B

公开(公告)日：2020-12-11

申请号：CN201810669839.2

申请日：2018-06-26

Applicant: 首都师范大学 ,  北京理工大学

Inventor： 朱溢佞 ,  裴闻喜 ,  张慧滔 ,  张朋 ,  周书红 ,  王姗姗

IPC: C09G1/02 ,  B24B1/00

Abstract: 本发明实施例公开了一种制备纳米胶体有机复合抛光液的方法，通过下述重量份的原料制备所述纳米胶体有机复合抛光液：乙二醇乙酯：80重量份；纳米二氧化硅：5重量份；表面活性剂：M重量份；分散剂：1重量份；去离子水：N重量份；稳定剂：2重量份；pH调节剂：5重量份；其中，M为2‑6，N为1‑5，且所述原料均允许0.1重量份以内的误差。本发明实施例还公开了使用上述方法制备的纳米胶体有机复合抛光液对掺铊碘化铯晶体进行抛光的方法，可以得到表面粗糙度为10nm以下的掺铊碘化铯晶体。

公开(公告)号：CN118882523A

公开(公告)日：2024-11-01

申请号：CN202410997409.9

申请日：2024-07-24

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 张南生 ,  王姗姗 ,  周书红 ,  张韶辉 ,  郝群

IPC: G01B11/25

Abstract: 本发明公开了一种基于自适应条纹的逆向哈特曼测量方法，该方法包括：搭建逆向哈特曼测量光路；以被测镜的被测面中心顶点作为原点建立测量坐标；根据被测镜理论轮廓方程或者三维模型建立虚拟理想被测镜在测量坐标系下的空间点云坐标M(xm,ym,zm)；计算相机靶面与图像发生器映射关系；将所述图像发生器显示理想正弦条纹图案Ic，通过映射函数G对图案Ic进行逆向求解得到图像发生器显示的理想自适应正弦条纹图案Sd；采集镜面反射条纹及解算面形误差；通过调整被测镜位姿，被测镜面形和虚拟理想面形的偏差。本发明的方法，在实现被测镜的快速位姿确定的同时，提高了面形误差的测量精度。

公开(公告)号：CN111272083A

公开(公告)日：2020-06-12

申请号：CN202010211633.2

申请日：2020-03-24

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 王姗姗 ,  徐博文 ,  周书红 ,  张南生 ,  郝群 ,  胡摇

IPC: G01B11/02 ,  G01M11/00 ,  G01M11/02

Abstract: 本发明涉及一种离轴抛物面镜离轴量的测量装置及测量方法，属于光学元器件测量技术领域。本发明针对背面垂直于光轴的离轴抛物面镜，基于激光干涉仪和激光器，利用光的直线传播原理，分别定位离轴抛物面镜机械中心和抛物面镜光轴的位置，通过对两个位置距离的测量，实现对离轴抛物面离轴量的测量。本发明能够实现在一般光学实验室中即可方便有效、高效快速的完成离轴量测量，同时，降低了测量装置的复杂性。