公开(公告)号：CN108446523B

公开(公告)日：2022-04-08

申请号：CN201810450756.4

申请日：2018-05-11

Applicant: 北京航天自动控制研究所 ,  中国运载火箭技术研究院

Inventor： 郑伟 ,  张洁 ,  邵进 ,  段然 ,  刘江 ,  邓钊 ,  刘孟语 ,  林瑞仕 ,  杨轶 ,  彭红五 ,  唐阳 ,  徐嫣

IPC: G06F30/15 ,  G06F30/17 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明涉及一种电子整机贮存寿命评估与预测方法，在分析某典型整机失效机理的基础上，提出了基于Arrhenius模型的整机级加速因子计算方法，该方法仅需3种参数即可进行电子整机加速因子计算，根据计算结果开展加速试验并获得数据后，再利用基于优化GM(1,1)灰色模型的预测算法，研究自然贮存和加速试验数据的退化规律，并分析两组数据退化趋势的一致性，进而利用一致性分析结果实现加速因子计算模型参数的闭环修正，最后利用修正后的模型实现电子整机贮存寿命预测。本发明简单易懂且预测精度较高，适于工程推广。

公开(公告)号：CN108446523A

公开(公告)日：2018-08-24

申请号：CN201810450756.4

申请日：2018-05-11

Applicant: 北京航天自动控制研究所 ,  中国运载火箭技术研究院

Inventor： 郑伟 ,  张洁 ,  邵进 ,  段然 ,  刘江 ,  邓钊 ,  刘孟语 ,  林瑞仕 ,  杨轶 ,  彭红五 ,  唐阳 ,  徐嫣

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明涉及一种电子整机贮存寿命评估与预测方法，在分析某典型整机失效机理的基础上，提出了基于Arrhenius模型的整机级加速因子计算方法，该方法仅需3种参数即可进行电子整机加速因子计算，根据计算结果开展加速试验并获得数据后，再利用基于优化GM(1,1)灰色模型的预测算法，研究自然贮存和加速试验数据的退化规律，并分析两组数据退化趋势的一致性，进而利用一致性分析结果实现加速因子计算模型参数的闭环修正，最后利用修正后的模型实现电子整机贮存寿命预测。本发明简单易懂且预测精度较高，适于工程推广。

公开(公告)号：CN106707143A

公开(公告)日：2017-05-24

申请号：CN201710008030.0

申请日：2017-01-05

Applicant: 北京航天自动控制研究所

Inventor： 李鑫 ,  彭红五 ,  周饴然 ,  向刚

IPC: G01R31/3177

CPC classification number: G01R31/3177

Abstract: 本发明提供了一种芯片内部逻辑验证系统，其特征在于，包括：用于根据控制指令向被测芯片发送控制信号并接收被测芯片的反馈信号的主控模块、用于在被测芯片与主控模块之间进行电平转换的电平转换模块、至少一个用于连接被测芯片的I/O模块；其中所述I/O模块通过电平转换模块连接所述主控模块。上述技术方案能够针对可编程芯片内部逻辑的测试验证，该装置的投入可以对芯片进行批量的测试验证，减少了操作人员的工作量，提高了测试效率和测试覆盖率。