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公开(公告)号：CN118858881A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410818817.3
申请日：2024-06-24
Applicant: 北京芯驰半导体科技股份有限公司
Inventor： 丰斌
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请提供了一种芯片自检方法、自检电路、芯片、部件及交通设备，电压控制器从功能块的至少一个预设电压值中确定出一个目标电压值，并基于目标电压值向功能块供电，目标电压值为还未测试的预设电压值；自检控制器基于激励数据对功能块组进行功能测试，得到测试结果；如果测试结果表征存在至少一个第二功能块，且每个第二功能块均存在至少一个还未测试的预设电压值，则电压控制器基于测试结果重新选取第二功能块的目标电压值，基于目标电压值向第二功能块供电，自检控制器重新基于激励数据对功能块组进行功能测试，得到测试结果，直到测试结果表征每个功能块的功能测试均通过，确定芯片自检通过，第二功能块为功能测试未通过的功能块。
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