一种晶间氧化样品的制备方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114778235A

    公开(公告)日:2022-07-22

    申请号:CN202210292238.0

    申请日:2022-03-23

    Abstract: 本申请涉及钢铁金相检测分析技术领域,尤其涉及一种晶间氧化样品的制备方法;所述方法:分别得到金相样品和薄金属片;将所述薄金属片与所述金相样品的待测面对齐固定,得到固定样品;将所述固定样品进行全自动热镶嵌,后进行磨抛,得到可准确检测的晶间氧化样品;其中,所述薄金属片和所述金相样品间隔设置;通过在金相样品上设置薄金属片,再通过全自动热镶嵌的方式,使薄金属片和金相样品通过镶嵌的压力而相互结合,利用薄金属片质地软和易变形的特性,从而能稳定金相样品和薄金属片接触面的边部质量,同时能消除边部微小划痕和假象,从而能提高金相样品的待检测面的质量,进而提高晶间氧化样品的制样方法对检测准确性的提升。

    一种样品制备工艺方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110596167A

    公开(公告)日:2019-12-20

    申请号:CN201910862932.X

    申请日:2019-09-12

    Abstract: 本发明提供一种样品制备工艺方法,包括:将具有表面缺陷的钢材进行切割,形成待测样品;根据待测样品的尺寸对辅助钢材进行切割,形成辅助样品,辅助样品的厚度为1~2mm,辅助样品及待测样品的平直度保持一致;利用双面铜导电胶将待测样品及辅助样品粘结,形成组合样品,双面铜导电胶与待测样品的待磨制边的距离为2~3mm;对组合样品进行缠绕固定,缠绕固定后,待测样品与辅助样品之间的缝隙为0.05~0.15mm;利用磨抛机对所述缠绕固定后的组合样品的待检测面进行打磨,磨制完成后,拆掉辅助样品;对磨制后的待测样品进行超声波清洗、烘干;对待测样品的待检测面进行清洁后,标记待检测面的缺陷。

    一种金相试样夹具
    3.
    实用新型

    公开(公告)号:CN219359152U

    公开(公告)日:2023-07-18

    申请号:CN202320422942.3

    申请日:2023-03-02

    Abstract: 本申请公开了一种金属试样夹具,属于金属金相检验技术领域,至少一定程度上解决试样夹具不能夹持多种形状的金相试样磨抛,导致金相制样工作效率低的技术问题。本申请的一种金相试样夹具用于夹持平板试样和柱形试样,金相试样夹具包括相对设置的第一夹板和第二夹板,第二夹板向第一夹板可移动设置,第一夹板和第二夹板之间形成夹持区域,用于夹持平板试样;夹持腔柱连接在第一夹板远离第二夹板的端面上,夹持腔柱设置有顶端敞口的夹持腔,夹持腔柱侧壁设置有紧固件,用于固定伸入到夹持腔中的柱形试样。本金相试样夹具通过夹持区域夹持平板试样和夹持腔固定柱形试样,能够同时夹持平板试样和柱形试样的磨抛,起到提高金相制样工作效率的作用。

    一种用于金相检验的辅助装置

    公开(公告)号:CN217688114U

    公开(公告)日:2022-10-28

    申请号:CN202220645845.6

    申请日:2022-03-23

    Abstract: 本实用新型公开了一种用于金相检验的辅助装置,包括底座,且底座上有用于承载试样的检验位,底座上设有立杆,并在立杆上通过设置夹具安装干燥装置,在金属的金相检验过程中,金相试样需要吹干的时候,将试样放置在检验位上,通过干燥装置架设于试样上,并对试样进行干燥处理,实现无需单个手持进行干燥的操作,也避免了人为操作导致干燥效果一致性较差,同时通过夹具在立杆上的装设位置,使得检验位与干燥装置之间设有一定的干燥间距,使试验在干燥时,效果更为可控。

    一种金相腐蚀装置
    5.
    实用新型

    公开(公告)号:CN220437940U

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN202320377900.2

    申请日:2023-03-02

    Abstract: 本申请公开了一种金相腐蚀装置,属于金属金相试验技术领域,至少一定程度上解决了金相腐蚀装置光源不足,不便于观察金相试样腐蚀情况的技术问题。本申请所提供的一种金相腐蚀装置包括耐腐蚀容器、防护框架及照明件,其中防护框架包覆设置在耐腐蚀容器外侧,照明件沿竖直方向可升降设置在耐腐蚀容器的上方,并对下方的耐腐蚀容器内部照明设置。本金相腐蚀装置通过防护框架包覆耐腐蚀容器,从而能够有效避免易碎的耐腐蚀容器损坏;同时耐腐蚀容器的上方升降有照明件,当需要充足光源时,降低照明件的高度,使得足够的光源照射金相试样,能够更清楚观察金相试样的腐蚀情况,当不需要光源时,升高照明件,使之远离耐腐蚀容器的上端口,便于放入或取出耐腐蚀容器内的金相试样。

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