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公开(公告)号：CN118347434A
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202410448249.2
申请日：2024-04-15
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA的面结构光三维测量方法，包括：启动配置FPGA的嵌入式系统、高速接口工业相机参数、加载DMA驱动配置传输参数，各个部分连接上位机；高速接口工业相机输出图像数据到FPGA端，FPGA端对图像数据进行数据重组及串并转换；对串并转换后的图像数据进行缓存，输出多帧图像数据；对多帧图像数据进行计算得到包裹相位，采用循环互补格雷码展开得到绝对相位数据，根据绝对相位数据获得点云数据；以DMA方式缓存点云数据至DDR外部存储空间，通过以太网发送数据至上位机。本发明提供可动态场景测量的完整方案，整个系统搭建在ZYNQ芯片上，具有强大的计算力和灵活性，具有较大的工程应用价值。
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