一种复合绝缘子劣化类型判别方法、装置、存储介质、设备及程序产品

    公开(公告)号:CN118837406A

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202411039293.4

    申请日:2024-07-31

    Abstract: 本发明公开了一种复合绝缘子劣化类型判别方法、装置、存储介质、设备及程序产品,方法包括:获取复合绝缘子中轴线表面温度数据;计算最大温升;响应于最大温升大于预设的第一温度阈值,计算特征参量并获取环境湿度;当环境湿度小于预设的湿度阈值时,基于特征参量,进行低湿度下的劣化类型判别,得到表面积污和界面缺陷的比例;当环境湿度大于等于预设的湿度阈值时,基于特征参量,进行高湿度下的劣化类型判别,得到表面积污、界面缺陷和护套老化受潮的比例。本发明能够满足现场绝缘子检测简单、快捷、有效的要求。

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