基于周期不同步正弦条纹加相位编码条纹的三维测量方法

    公开(公告)号:CN107339954B

    公开(公告)日:2019-09-13

    申请号:CN201710371015.2

    申请日:2017-05-23

    Abstract: 本发明公开了基于周期不同步正弦条纹加相位编码条纹的三维测量方法,由周期不同步条纹编码原理、周期不同步条纹解码原理、三维测量原理三大关键部分组成。本发明的优点是:(1)由于条纹级次的跳变部分容易出错,所以本发明中相位编码条纹比正弦条纹提前φ0(φ0=(T2‑T1)/2)像素,使编码相位的跳变部分对应包裹相位的中间部分,最后条纹级次的跳变部分由其中间部分计算得到,避免了条纹级次跳变点出错的问题。(2)传统的正弦条纹与相位编码条纹周期相等时,条纹级次的判决困难。本发明中投影N个周期的相位编码条纹,2N(3N,4N...)个周期的正弦条纹,此时相位编码条纹频率降低,使条纹级次的判决准确,进一步提高了测量精度。

    基于周期不同步正弦条纹加相位编码条纹的三维测量方法

    公开(公告)号:CN107339954A

    公开(公告)日:2017-11-10

    申请号:CN201710371015.2

    申请日:2017-05-23

    Abstract: 本发明公开了基于周期不同步正弦条纹加相位编码条纹的三维测量方法,由周期不同步条纹编码原理、周期不同步条纹解码原理、三维测量原理三大关键部分组成。本发明的优点是:(1)由于条纹级次的跳变部分容易出错,所以本发明中相位编码条纹比正弦条纹提前φ0(φ0=(T2-T1)/2)像素,使编码相位的跳变部分对应包裹相位的中间部分,最后条纹级次的跳变部分由其中间部分计算得到,避免了条纹级次跳变点出错的问题。(2)传统的正弦条纹与相位编码条纹周期相等时,条纹级次的判决困难。本发明中投影N个周期的相位编码条纹,2N(3N,4N...)个周期的正弦条纹,此时相位编码条纹频率降低,使条纹级次的判决准确,进一步提高了测量精度。

    彩色二进制条纹离焦投影三维测量方法

    公开(公告)号:CN103983208A

    公开(公告)日:2014-08-13

    申请号:CN201410193341.5

    申请日:2014-05-09

    Abstract: 本发明公开了彩色二进制条纹离焦投影三维测量方法,由彩色二进制条纹编码原理、离焦投影系统、三维测量原理三大关键部分组成。本发明的优点是:(1)与传统彩色正弦条纹投影方法相比:传统方法投影仪投影的彩色正弦条纹灰度分布为0-255,投影速度限制在120帧/秒以内,制约了测量速度;本方法投影彩色二进制条纹,由于只有0和255两个灰度级,投影仪的投影速度有很大的提高,极大地提高三维测量速度;(2)采用了三步相移方法,只需要一幅彩色二进制条纹就可以实现三维测量,本方法具有较快的三维测量速度;(3)该方法在高速、高精度三维测量中具有很高的实用价值。

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