公开(公告)号：CN116399938B

公开(公告)日：2025-02-14

申请号：CN202310407575.4

申请日：2023-04-17

Applicant: 南昌航空大学

Inventor： 胡博 ,  程虹之 ,  石文泽 ,  陈宇 ,  任尚坤

IPC: G01N27/82 ,  G01L1/12 ,  G06F30/20 ,  G06F18/24 ,  G06F18/2135

Abstract: 本发明涉及一种应力‑缺陷混叠磁信号处理方法，主要解决现有磁检测技术在构件内同时存在应力集中和宏观缺陷时，无法进行有效区分的技术问题。包括步骤1、分别建立尺寸相同的应力损伤模型和应力‑缺陷混叠损伤模型；步骤2、分别根据应力损伤模型和应力‑缺陷混叠损伤模型，获得应力区磁场信号和混叠区磁场信号；步骤3、分别对应力区磁场信号和混叠区磁场信号进行主元分析，获得第一信号样本和第二信号样本；步骤4、对第二信号样本进行线性判别分析处理，获得第三信号样本；步骤5、分别计算第一信号样本和第三信号样本中点数分布的集中程度，并比对第三信号样本相对于第一信号样本的集中程度相对误差。

公开(公告)号：CN116399938A

公开(公告)日：2023-07-07

申请号：CN202310407575.4

申请日：2023-04-17

Applicant: 南昌航空大学

Inventor： 胡博 ,  程虹之 ,  石文泽 ,  陈宇 ,  任尚坤

IPC: G01N27/82 ,  G01L1/12 ,  G06F30/20 ,  G06F18/24 ,  G06F18/2135

Abstract: 本发明涉及一种应力‑缺陷混叠磁信号处理方法，主要解决现有磁检测技术在构件内同时存在应力集中和宏观缺陷时，无法进行有效区分的技术问题。包括步骤1、分别建立尺寸相同的应力损伤模型和应力‑缺陷混叠损伤模型；步骤2、分别根据应力损伤模型和应力‑缺陷混叠损伤模型，获得应力区磁场信号和混叠区磁场信号；步骤3、分别对应力区磁场信号和混叠区磁场信号进行主元分析，获得第一信号样本和第二信号样本；步骤4、对第二信号样本进行线性判别分析处理，获得第三信号样本；步骤5、分别计算第一信号样本和第三信号样本中点数分布的集中程度，并比对第三信号样本相对于第一信号样本的集中程度相对误差。