一种c轴倾斜氮化镓FBAR压电质量传感器

    公开(公告)号:CN104764511A

    公开(公告)日:2015-07-08

    申请号:CN201510193412.6

    申请日:2015-04-22

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明提供了一种c轴倾斜氮化镓FBAR压电质量传感器,于包括:敏感层、上电极、信号端、接地端、c轴倾斜氮化镓压电薄膜、刻蚀孔、下电极、布拉格反射层和衬底;所述信号端和接地端在c轴倾斜氮化镓压电薄膜的顶部排布;所述上电极与信号端连接,并且涂覆有所述敏感层;下电极通过设置在压电薄膜的刻蚀孔与接地端相连;下电极沉积在布拉格反射层上,布拉格反射层沉积在衬底上。本发明提出的一种c轴倾斜氮化镓FBAR压电质量传感器,压电薄膜采用c轴倾斜的氮化镓压电薄膜,优选一定c轴倾斜角,可以使质量传感器在潮湿环境或液相环境中正常工作。

    一种新型TSV转接板及制作方法

    公开(公告)号:CN105405838A

    公开(公告)日:2016-03-16

    申请号:CN201510593503.9

    申请日:2015-09-17

    Abstract: 本发明涉及一种新型TSV转接板及制作方法。该转接板包括基板,所述基板上有若干个自由柱,其一端通过空隙与基板相分离,另一端通过绝缘材料与基板固定与绝缘,所述基板上下两面以及所述的自由柱的侧壁覆盖着一层绝缘层,自由柱的自由端面和固定端面均存在由金属层构成的欧姆接触。所述基板为低阻硅材料(≤0.1Ω·cm),所述自由柱与基板间接接触所使用的绝缘材料为二氧化硅、玻璃浆料和树脂的一种;所述与自由柱的自由端及固定端构成欧姆接触的金属层是铜、铝、金、锡等的一种。本发明从根本上避免了像Cu、Au、W与硅衬底存在热膨胀系数失配造成的热应力问题,实现了低热应力TSV转接板。

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