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公开(公告)号：CN109599321A
公开(公告)日：2019-04-09
申请号：CN201811443256.4
申请日：2018-11-29
Applicant: 厦门大学
CPC classification number: H01J49/406 , H01J49/0031
Abstract: 本发明公开了一种激光超声弹射脱附反射式飞行时间质谱仪及其使用方法，可用于煤萃取物中传统电喷雾难以电离的无极性大分子与不溶难溶成分结构的解析。本发明包括激光源、离子发生器及引导腔和反射式飞行时间质谱仪。激光源可以产生质量数大结构完整度较高的分子；引导腔可以将电离后的离子进行聚焦以获得更高的灵敏度；反射式飞行时间质谱仪对产生的大分子离子进行快速、实时、原位的检测。本发明与现有技术相比的优点在于脱附和电离方式更温和，产生的碎片少，离子传输部分结构简单容易获得高的灵敏度，可原位、实时反映脱附出的大分子的结构信息。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107958833A
公开(公告)日：2018-04-24
申请号：CN201711213720.6
申请日：2017-11-28
Applicant: 厦门大学
IPC: H01J49/40
CPC classification number: H01J49/40 , H01J49/405
Abstract: 一种原位中间体探测质谱分析装置，涉及原位质谱分析。设有石英反应管、U型石英反应管、原位反应炉腔体、电加热炉、漏勺、光电离源、离子调制区、飞行时间质谱加速区、飞行时间质谱无场区、飞行时间质谱反射区、检测器和分子泵；石英反应管入口和出口穿过原位反应炉腔体与U型石英反应管相连，U型石英反应管嵌套在电加热炉中并在末端开有取样孔，取样孔正对着漏勺，离子调制区、漏勺和飞行时间质谱加速区三者处于同一轴线上，光电离源垂直安装于离子调制区上，离子调制区上设有3个圆形电极；从反应管经漏勺到离子调制区真空度依次增加，第2分子泵连接在原位反应炉腔体，第1分子泵位于离子调制区和飞行时间质谱分析器所在腔室。
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公开(公告)号：CN109632727A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201811598070.6
申请日：2018-12-26
Applicant: 厦门大学
IPC: G01N21/63
CPC classification number: G01N21/63
Abstract: 一种基于气相激光等离子体可调真空紫外单光子电离装置，涉及真空紫外可调单光子电离技术。第1观察窗与第2观察窗成90°安装；短脉冲激光器的光路垂直于第1观察窗和聚焦镜，聚焦镜将短脉冲激光器聚焦于脉冲阀内的高压脉冲气，脉冲阀垂直正交安装在短脉冲激光器焦点上方；短脉冲激光器聚焦于脉冲阀的高压脉冲气产生的真空紫外光和短脉冲激光器光路形成40°入射到光栅，真空紫外光经过光栅分光被检测器接收；检测器被安装在高压脉冲气正下方，检测器和光栅平行安装；所述短脉冲激光器、聚焦镜、高压脉冲气、光栅和检测器的中心处于同一平面上；所述分子泵安装于真空腔底面正中心，组成真空系统，其真空度为10‑5～10‑4Pa。
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公开(公告)号：CN108037525B
公开(公告)日：2019-06-07
申请号：CN201711225994.7
申请日：2017-11-29
Applicant: 厦门大学
Abstract: 一种用于质谱和光电子速度成像共同探测的装置，涉及质谱及光电子成像。设有质谱MCP检测器、光电子速度成像透镜系统、成像探测系统、第1螺旋直线导入器、第2螺旋直线导入器、第3螺旋直线导入器、第1滑轨和第2滑轨；所述质谱MCP检测器与第3螺旋直线导入器相连，所述第3螺旋直线导入器调节成像探测系统的垂直高度，第1螺旋直线导入器、第2螺旋直线导入器与光电子速度成像透镜系统相连，旋转第1螺旋直线导入器和第2螺旋直线导入器调节光电子速度成像透镜系统的水平位置，光电子速度成像透镜系统设在第1滑轨和第2滑轨上。
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公开(公告)号：CN107727730A
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201711229002.8
申请日：2017-11-29
Applicant: 厦门大学
CPC classification number: G01N27/628 , G01T1/29 , G01T1/36
Abstract: 一种双反射式飞行时间质谱光电子速度成像仪，设有激光溅射离子源、冷却离子阱、飞行时间质谱和负离子光电子速度成像系统；激光溅射离子源用于生成团簇离子，产生的团簇离子进入冷却离子阱囚禁冷却后被加速场垂直加速进入飞行时间质谱，负离子光电子速度成像系统对出射光电子进行探测，得中性团簇电子结构的光电子能谱。利用激光溅射离子源生成团簇离子，产生的团簇离子进入线性离子阱囚禁冷却后被加速场垂直加速进入飞行时间质谱，通过质谱探测获得产生团簇离子的强度分布。分析质谱后，选择特定团簇负离子，与脱附激光相互作用，产生中性分子和光电子。利用负离子光电子速度成像系统对出射光电子进行探测，得中性团簇电子结构的光电子能谱。
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公开(公告)号：CN108037525A
公开(公告)日：2018-05-15
申请号：CN201711225994.7
申请日：2017-11-29
Applicant: 厦门大学
Abstract: 一种用于质谱和光电子速度成像共同探测的装置，涉及质谱及光电子成像。设有质谱MCP检测器、光电子速度成像透镜系统、成像探测系统、第1螺旋直线导入器、第2螺旋直线导入器、第3螺旋直线导入器、第1滑轨和第2滑轨；所述质谱MCP检测器与第3螺旋直线导入器相连，所述第3螺旋直线导入器调节成像探测系统的垂直高度，第1螺旋直线导入器、第2螺旋直线导入器与光电子速度成像透镜系统相连，旋转第1螺旋直线导入器和第2螺旋直线导入器调节光电子速度成像透镜系统的水平位置，光电子速度成像透镜系统设在第1滑轨和第2滑轨上。
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