公开(公告)号：CN112540117A

公开(公告)日：2021-03-23

申请号：CN202011347227.5

申请日：2020-11-26

Applicant: 厦门大学

Inventor： 唐紫超 ,  张将乐 ,  余竞雄 ,  施再发 ,  江一煌 ,  陈玉婉 ,  邓泽峰

IPC: G01N27/64

Abstract: 本发明涉及了一种气相原位质谱检测装置，主要用于负离子气相反应原位检测研究。该装置包括离子源室、加速室、透镜室以及探测室。工作时，整套装置内处于高真空环境下，利用激光溅射样品产生等离子体，等离子体经过反应通道再与其他气体反应生成团簇离子，团簇离子进入加速室由加速器加速经过聚焦透镜到达探测室由探测器接收离子信息。本发明与现有的技术相比，其优点在于：该仪器的离子源可实现离子的在线反应的原位检测，整套仪器设计结构简单且紧凑，造价便宜，性能稳定性好，测量的质荷比范围广。

公开(公告)号：CN108037525B

公开(公告)日：2019-06-07

申请号：CN201711225994.7

申请日：2017-11-29

Applicant: 厦门大学

Inventor： 唐紫超 ,  王永天 ,  施再发 ,  张将乐 ,  刘方刚 ,  王可

IPC: G01T1/36 ,  H01J49/26

Abstract: 一种用于质谱和光电子速度成像共同探测的装置，涉及质谱及光电子成像。设有质谱MCP检测器、光电子速度成像透镜系统、成像探测系统、第1螺旋直线导入器、第2螺旋直线导入器、第3螺旋直线导入器、第1滑轨和第2滑轨；所述质谱MCP检测器与第3螺旋直线导入器相连，所述第3螺旋直线导入器调节成像探测系统的垂直高度，第1螺旋直线导入器、第2螺旋直线导入器与光电子速度成像透镜系统相连，旋转第1螺旋直线导入器和第2螺旋直线导入器调节光电子速度成像透镜系统的水平位置，光电子速度成像透镜系统设在第1滑轨和第2滑轨上。

公开(公告)号：CN107727730A

公开(公告)日：2018-02-23

申请号：CN201711229002.8

申请日：2017-11-29

Applicant: 厦门大学

Inventor： 唐紫超 ,  王永天 ,  施再发 ,  张将乐 ,  刘方刚 ,  王可

IPC: G01N27/62 ,  G01T1/29 ,  G01T1/36

CPC classification number: G01N27/628 ,  G01T1/29 ,  G01T1/36

Abstract: 一种双反射式飞行时间质谱光电子速度成像仪，设有激光溅射离子源、冷却离子阱、飞行时间质谱和负离子光电子速度成像系统；激光溅射离子源用于生成团簇离子，产生的团簇离子进入冷却离子阱囚禁冷却后被加速场垂直加速进入飞行时间质谱，负离子光电子速度成像系统对出射光电子进行探测，得中性团簇电子结构的光电子能谱。利用激光溅射离子源生成团簇离子，产生的团簇离子进入线性离子阱囚禁冷却后被加速场垂直加速进入飞行时间质谱，通过质谱探测获得产生团簇离子的强度分布。分析质谱后，选择特定团簇负离子，与脱附激光相互作用，产生中性分子和光电子。利用负离子光电子速度成像系统对出射光电子进行探测，得中性团簇电子结构的光电子能谱。

公开(公告)号：CN111103615A

公开(公告)日：2020-05-05

申请号：CN201911320439.1

申请日：2019-12-19

Applicant: 厦门大学

Inventor： 唐紫超 ,  陈玉婉 ,  张将乐 ,  陈善俊 ,  邱兴泰

IPC: G01T1/36

Abstract: 一种高分辨光电子速度成像装置，包括：参考电极片、电子加速电极片、探测装置、CCD相机、屏蔽筒以及激光器。由离子源产生的团簇负离子经过电子加速电极片时与激光正交发生光脱附，产生的光电子经过电极片的双场加速到达荧光屏，并由CCD相机采集成像信息。得到中性物种的电子亲和势和负离子的垂直脱附能等信息，以探究其电子结构和成键特征。本发明装置较小，加工方便，有利于准直，背景信号干扰低，能有效的提高光电子成像的分辨率。

公开(公告)号：CN108037525A

公开(公告)日：2018-05-15

申请号：CN201711225994.7

申请日：2017-11-29

Applicant: 厦门大学

Inventor： 唐紫超 ,  王永天 ,  施再发 ,  张将乐 ,  刘方刚 ,  王可

IPC: G01T1/36 ,  H01J49/26

CPC classification number: G01T1/36 ,  H01J49/26

Abstract: 一种用于质谱和光电子速度成像共同探测的装置，涉及质谱及光电子成像。设有质谱MCP检测器、光电子速度成像透镜系统、成像探测系统、第1螺旋直线导入器、第2螺旋直线导入器、第3螺旋直线导入器、第1滑轨和第2滑轨；所述质谱MCP检测器与第3螺旋直线导入器相连，所述第3螺旋直线导入器调节成像探测系统的垂直高度，第1螺旋直线导入器、第2螺旋直线导入器与光电子速度成像透镜系统相连，旋转第1螺旋直线导入器和第2螺旋直线导入器调节光电子速度成像透镜系统的水平位置，光电子速度成像透镜系统设在第1滑轨和第2滑轨上。

公开(公告)号：CN211654767U

公开(公告)日：2020-10-09

申请号：CN201922272472.3

申请日：2019-12-17

Applicant: 厦门大学

Inventor： 唐紫超 ,  张将乐 ,  陈善俊 ,  邱兴泰 ,  陈玉婉

IPC: H01J49/06 ,  H01J49/16 ,  H01J49/40

Abstract: 一种直线式飞行时间质谱垂直式光电子速度成像仪，包括离子源室、加速室、透镜室、探测室及成像室,该离子源室用于生成离子团簇，该加速室将离子团簇加速推出，该透镜室用于保证离子团簇的聚焦及其飞行方向；该探测室用于检测离子团簇的分布信息，并选择感兴趣的离子团簇进入成像室；成像室设有离子透镜、加速电极、磁屏蔽筒和成像探测器；该离子透镜用于聚焦离子团簇至加速电极，在加速电极处与一脱附激光互相作用产生光电子并加速，成像探测器探测光电子并采集图像信息；该磁屏蔽筒套设于加速电极和成像探测器外。本实用新型结构简单且紧凑，造价便宜，性能稳定性好。