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公开(公告)号：CN119827535A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411997309.2
申请日：2024-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/06 , G01N23/087
Abstract: 一种多能成像系统及方法，多能成像系统包括：多能谱辐射源（10），被配置为产生多种射线辐射中的至少一种，所述多种射线辐射具有不同最大能量的能谱；多能谱探测器（20），能够获得射线辐射的能谱中的多种能量成分中的至少一种；和处理器（30），与所述多能谱辐射源（10）和所述多能谱探测器（20）信号连接，被配置为获得穿过被检对象的所述多种射线辐射和所述多种能量成分之间的至少两种配合方式的能谱图像数据。
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公开(公告)号：CN117555034A
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202311829691.1
申请日：2023-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22
Abstract: 本发明涉及一种检测系统，包括第一射线源、第二射线源、第一探测器、第二探测器、第三探测器和第四探测器，第一射线源和第二射线源均被配置为向被检物发射射线，第一探测器设置于被检物的远离第一射线源的一侧，第一探测器被配置为接收第一射线源发射的穿透被检物的射线，第二探测器设置于被检物的远离第二射线源的一侧，第二探测器被配置为接收第二射线源发射的穿透被检物的射线，第三探测器与第一射线源设置于被检物的同侧，第三探测器被配置为接收第一射线源发射的经被检物散射后的射线，第四探测器与第二射线源设置于被检物的同侧，第四探测器被配置为接收第二射线源发射的经被检物散射后的射线。
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公开(公告)号：CN109492449A
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201910009508.0
申请日：2019-01-04
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
Abstract: 本发明涉及一种箱体识别系统、识别方法、检查设备及港口设施，其中，箱体识别系统包括门架(5)，具有供待识别的箱体(1)经过的通道；区域激光扫描仪(2)，设在门架(5)上，用于检测箱体(1)的当前位置；以及标识获取部件，设在门架(5)上，用于根据箱体(1)的当前位置获取箱体(1)各个面上的标识。此种箱体识别系统将区域激光扫描仪和标识获取部件集成设置在门架上，可在实际应用中作为整体进行安装，提高了识别系统的集成度，占地面积小，或者也可附加安装在其它门架式设备上，减少了土建工作和安装支架的数量，使用灵活方便，便于安装与调试，也利于进行整体转移。
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公开(公告)号：CN109597138A
公开(公告)日：2019-04-09
申请号：CN201910009043.9
申请日：2019-01-04
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/00
Abstract: 本发明公开了一种物品检测装置，包括：门式框架，包括位于顶部的横臂，和位于所述横臂两侧并与所述横臂连接的两个竖臂，所述门式框架通过所述横臂和所述两个竖臂所围成的区域构成检测通道；回转支撑装置，分别连接在所述两个竖臂的上端，用于支撑所述横臂，并能够通过自身的旋转运动使所述两个竖臂分别绕自身竖直轴线旋转；以及基于辐射成像的物品检测组件，至少部分地设置于所述门式框架，用于对通过所述门式框架的物品进行检测；其中，所述横臂包括伸缩装置，能够通过自身的伸缩运动改变所述横臂的长度。本发明实施例通过所述伸缩装置的伸缩运动改变所述横臂的长度，从而提升对不同待检测物品的检测效率。
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公开(公告)号：CN109521480A
公开(公告)日：2019-03-26
申请号：CN201910008952.0
申请日：2019-01-04
Applicant: 同方威视科技(北京)有限公司 , 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00
Abstract: 本公开提供了一种辐射检查设备和辐射检查方法。辐射检查设备包括：辐射探测装置，包括射线源和与射线源配合以对被检物进行扫描检查的探测器，辐射探测装置具有用于被检物在接受扫描检查时通过的检查通道；和行走轮，设置于辐射探测装置的底部，用于辐射检查设备沿检查通道的延伸方向行走，其中，行走轮设置为可旋转90°以使辐射检查设备沿垂直于检查通道的延伸方向的方向行走。基于本公开提供的辐射检查设备和辐射检查方法，可以实现对多排被检物的连续扫描检查，提高辐射检查设备的使用效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109597138B
公开(公告)日：2024-09-17
申请号：CN201910009043.9
申请日：2019-01-04
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22
Abstract: 本发明公开了一种物品检测装置，包括：门式框架，包括位于顶部的横臂，和位于所述横臂两侧并与所述横臂连接的两个竖臂，所述门式框架通过所述横臂和所述两个竖臂所围成的区域构成检测通道；回转支撑装置，分别连接在所述两个竖臂的上端，用于支撑所述横臂，并能够通过自身的旋转运动使所述两个竖臂分别绕自身竖直轴线旋转；以及基于辐射成像的物品检测组件，至少部分地设置于所述门式框架，用于对通过所述门式框架的物品进行检测；其中，所述横臂包括伸缩装置，能够通过自身的伸缩运动改变所述横臂的长度。本发明实施例通过所述伸缩装置的伸缩运动改变所述横臂的长度，从而提升对不同待检测物品的检测效率。
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公开(公告)号：CN109407163B
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN201910009050.9
申请日：2019-01-04
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22
Abstract: 本公开提供一种辐射检查系统和辐射检查方法。辐射检查系统包括多个辐射检查通道，用于通过被检物；辐射源，设于多个辐射检查通道围成的区域内，用于向多个辐射检查通道发射辐射检查射线以对通过多个辐射检查通道内的被检物进行辐射检查；探测装置，用于探测多个辐射检查通道内被辐射检查射线照射的待检物的透射射线和/或背散射射线。该辐射检查系统具有多个辐射检查通道，可以同时对多个被检物进行辐射检查，同时可以有效利用辐射源发出的多个角度的辐射检查射线。
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公开(公告)号：CN109932755A
公开(公告)日：2019-06-25
申请号：CN201910108201.6
申请日：2019-02-03
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/00
Abstract: 本公开涉及一种可行走式检查设备及控制方法。可行走式检查设备包括：第一车体(10)和设置在第一车体(10)中的射线源(40)；第二车体(20)和设置在第二车体(20)上的防护墙；臂架(30)和设置在所述臂架(30)上的多个探测器(50)，所述臂架(30)分别与所述第一车体(10)和所述第二车体(20)可转动地连接；至少两个独立驱动和独立转向的第一驱动轮(60)，设置在所述第一车体(10)上，用于实现所述第一车体(10)的行走和转向；和至少两个独立驱动和独立转向的第二驱动轮(70)，设置在所述第二车体(20)上，用于实现所述第二车体(20)的行走和转向。本公开实施例能够满足更加灵活的工作需求。
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公开(公告)号：CN109407163A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201910009050.9
申请日：2019-01-04
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/00
Abstract: 本公开提供一种辐射检查系统和辐射检查方法。辐射检查系统包括多个辐射检查通道，用于通过被检物；辐射源，设于多个辐射检查通道围成的区域内，用于向多个辐射检查通道发射辐射检查射线以对通过多个辐射检查通道内的被检物进行辐射检查；探测装置，用于探测多个辐射检查通道内被辐射检查射线照射的待检物的透射射线和/或背散射射线。该辐射检查系统具有多个辐射检查通道，可以同时对多个被检物进行辐射检查，同时可以有效利用辐射源发出的多个角度的辐射检查射线。
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公开(公告)号：CN109444971B
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN201910009021.2
申请日：2019-01-04
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22
Abstract: 本发明公开了一种物品检测装置，包括：门式框架，包括位于顶部的横臂，和位于所述横臂两侧并与所述横臂连接的两个竖臂，所述门式框架通过所述横臂和所述两个竖臂所围成的区域构成检测通道；以及基于辐射成像的物品检测组件，至少部分地设置于所述门式框架，用于对通过所述门式框架的物品进行检测；其中，所述横臂包括伸缩装置，能够通过自身的伸缩运动改变所述横臂的长度。本发明实施例通过所述伸缩装置的伸缩运动改变所述横臂的长度，从而提升对不同待检测物品的检测效率。
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