-
公开(公告)号：CN117784267A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311841945.1
申请日：2023-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
Abstract: 本公开提供了一种辐射检测方法，涉及辐射检测领域、安全检查领域或其他领域。该方法用于包括第一靶点的第一射线扫描设备和包括第二靶点的第二射线扫描设备，具体包括：控制所述第一靶点扫描对象的第一区域，得到第一图像；控制所述第二靶点扫描所述对象的第二区域，得到第二图像，所述第二靶点相比所述第一靶点更接近地面；其中，所述第二区域中至少部分区域位于所述第一区域之外，且所述至少部分区域在竖直方向上位于所述第一区域的下方。能够提高扫描覆盖率，实现扫描对象上全部目标区域，达到理想的扫描效果。本公开还提供了一种辐射检测装置、设备和存储介质。
-
公开(公告)号：CN117784266A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311841468.9
申请日：2023-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
Abstract: 本公开提供了一种辐射检测系统，涉及辐射检测领域、安全检查领域或其他领域。该辐射检测系统包括第一射线扫描设备和第二射线扫描设备。第一射线扫描设备包括第一靶点，所述第一靶点发出射线用以扫描对象的第一区域；第二射线扫描设备包括第二靶点，所述第二靶点相比所述第一靶点更接近地面，所述第二靶点发出的射线用以扫描所述对象的第二区域；其中，所述第二区域中至少部分区域位于所述第一区域之外，且所述至少部分区域在竖直方向上位于所述第一区域的下方。本公开还提供了一种辐射检测装置。
-
公开(公告)号：CN117784265A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311835696.5
申请日：2023-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
Abstract: 本公开涉及一种辐射检查系统，用于对被检对象(101)进行扫描检查，辐射检查系统包括：第一光源(1)，包括沿高度方向(z)间隔设置的多个子光源(11)，多个子光源(11)被配置为独立发出射线束；透射探测器组件(2)，与第一光源(1)沿第一方向(x)相对间隔设置形成检查通道(3)，检查通道(3)用于供被检对象(101)通过且沿第二方向(y)延伸，透射探测器组件(2)被配置为接收第一光源(1)的透射光束；和准直器(4)，位于第一光源(1)和透射探测器组件(2)之间且靠近第一光源(1)所在侧，准直器(4)设有沿高度方向(z)设置的多个准直口(41)，多个准直口(41)被配置为限制多个子光源(11)发出光束的形状。
-
公开(公告)号：CN119827535A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411997309.2
申请日：2024-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/06 , G01N23/087
Abstract: 一种多能成像系统及方法，多能成像系统包括：多能谱辐射源（10），被配置为产生多种射线辐射中的至少一种，所述多种射线辐射具有不同最大能量的能谱；多能谱探测器（20），能够获得射线辐射的能谱中的多种能量成分中的至少一种；和处理器（30），与所述多能谱辐射源（10）和所述多能谱探测器（20）信号连接，被配置为获得穿过被检对象的所述多种射线辐射和所述多种能量成分之间的至少两种配合方式的能谱图像数据。
-
公开(公告)号：CN117555034A
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202311829691.1
申请日：2023-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22
Abstract: 本发明涉及一种检测系统，包括第一射线源、第二射线源、第一探测器、第二探测器、第三探测器和第四探测器，第一射线源和第二射线源均被配置为向被检物发射射线，第一探测器设置于被检物的远离第一射线源的一侧，第一探测器被配置为接收第一射线源发射的穿透被检物的射线，第二探测器设置于被检物的远离第二射线源的一侧，第二探测器被配置为接收第二射线源发射的穿透被检物的射线，第三探测器与第一射线源设置于被检物的同侧，第三探测器被配置为接收第一射线源发射的经被检物散射后的射线，第四探测器与第二射线源设置于被检物的同侧，第四探测器被配置为接收第二射线源发射的经被检物散射后的射线。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116297559A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202211698326.7
申请日：2022-12-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 本申请提供一种安全检查系统，其包括：可移动载体；承载装置，可分离地设置于可移动载体上，并在与可移动载体分离后，布置于可移动载体的第一方向的一侧，使得可移动载体一侧具有供被检对象通过的检测通道；扫描系统，用于对通过检测通道的被检对象进行扫描检测，并包括第一扫描装置，第一扫描装置包括相互配合的第一射线源和第一透射探测器，第一射线源和第一透射探测器中的一个设置于可移动载体上，另一个设置于承载装置上；和连接装置，用于在承载装置与可移动载体分离后，连接可移动载体和布置于可移动载体第一方向一侧的承载装置，使得第一射线源和第一透射探测器彼此共面。这样，可提高检测准确性。
-
公开(公告)号：CN114764072A
公开(公告)日：2022-07-19
申请号：CN202011641915.2
申请日：2020-12-31
Applicant: 同方威视科技(北京)有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提供了一种车辆检查系统，包括：车辆检查场，包括车辆入口、辐射检查区、人工查验区和车辆出口；辐射检查装置，设置于辐射检查区，被配置为对进入辐射检查区的待检查车辆进行辐射检查；场内运输装置，用于从车辆入口接收待检查车辆并将待检查车辆输送至辐射检查装置，以及承载辐射检查后的待检查车辆到达目标位置；和控制装置，与场内运输装置信号连接，被配置为根据辐射检查装置的扫描结果调度场内运输装置承载辐射检查后的被检查车辆到达目标位置，其中，扫描结果表明待检查车辆无安全嫌疑时以车辆出口为目标位置，扫描结果表明待检查车辆有安全嫌疑时以人工查验区为目标位置。该车辆检查系统利于提升车辆检查系统的安检通过率。
-
公开(公告)号：CN114137622A
公开(公告)日：2022-03-04
申请号：CN202111668874.0
申请日：2021-12-30
Applicant: 同方威视科技(北京)有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
Abstract: 本发明公开了一种移动式辐射检查设备以及移动式辐射检查系统，涉及安检领域，用以扩展移动式辐射检查设备的功能。移动式辐射检查设备包括车体、行走机构、臂架组件、第一成像装置以及第二成像装置。臂架组件安装于车体，且被构造为在检查状态和运输状态之间切换。第一成像装置包括均安装于臂架组件的第一射线源和第一射线探测器。第一射线源位于检查通道的顶部。第二成像装置包括第二射线源和第二射线探测器；第二射线探测器与第二射线源配合，以探测第二射线源发出的射线；第二射线源位于检测通道的侧面。上述技术方案提供的移动式辐射检查设备，实现了多角度、多模式扫描。
-
公开(公告)号：CN119667801A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202411918627.5
申请日：2024-12-24
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22
Abstract: 一种辐射扫描装置及检查设备，辐射扫描装置（RS）包括：底盘（10）；辐射源组件（20），设置于所述底盘（10）；臂架组件（30），与所述底盘（10）或所述辐射源组件（20）连接，用于形成探测区域；和探测器组件（40），设置于所述臂架组件（30），并与所述辐射源组件（20）配合，以便对被探测对象（DO）进行扫描成像；其中，所述底盘（10）的高度是可调的。
-
公开(公告)号：CN119596405A
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202411895934.6
申请日：2024-12-20
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22 , G01N23/20008 , G01N23/04 , G01N23/20
Abstract: 本申请提供一种辐射检查系统，其包括扫描装置，扫描装置包括辐射装置和探测装置，辐射装置和探测装置相互配合，对被检对象进行扫描，辐射装置位于被检对象的一侧，并包括至少两个辐射源，辐射装置的至少两个辐射源沿第一方向排布，并均包括沿第二方向间隔布置的至少两个子光源，第一方向和第二方向相互垂直，并与辐射装置与被检对象的相对布置方向相交，在辐射装置的至少两个辐射源中，在第一方向上任意相邻的两个辐射源在第二方向上部分重叠。这样，可提高辐射检查系统的检查结果的准确性。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
242
records
(took 0.094 seconds)
