公开(公告)号：CN118858867A

公开(公告)日：2024-10-29

申请号：CN202410829095.1

申请日：2024-06-25

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 刘超铭 ,  高乐 ,  王宇航 ,  刘建廷 ,  王铭峥 ,  王天琦 ,  齐春华 ,  霍明学

IPC: G01R31/26 ,  G01K13/00 ,  G01R31/52 ,  G01R27/02

Abstract: 一种电子元器件的功率循环测试系统及其测试方法，属于电子元器件的性能测试技术领域，为解决现有电子元器件检测过程中功率循环测试技术存在缺陷的问题，它包括：数据采集模块，以设定采样频率实时或定点采集电子元器件的电性能参数；环境模拟模块，模拟电应力条件以实现功率循环；自动控制模块，通过预设测试参数，动态调整电子元器件的运行状态，当电子元器件的实际参数达到预设测试参数范围时，停止测试；数据处理显示模块，用于显示数据采集模块的电性能参数，还用于对定点采集的电性能参数进行数据提取，并对测试过程中电性能参数的数据变化进行显示。用于实现多个电子元器件在不同的测试条件下进行实时检测。