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公开(公告)号：CN111431626A
公开(公告)日：2020-07-17
申请号：CN202010138589.7
申请日：2020-03-03
Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)(哈尔滨工业大学深圳科技创新研究院)
IPC: H04B13/02 , H04B17/391 , H04L25/02
Abstract: 本发明提供了一种基于训练的自适应水声信道跟踪方法，通过基于训练的自适应ASRMAE信道跟踪方法得到跟踪的信道，使用自适应卡尔曼跟踪器自适应的校正预测误差来改善跟踪性能，并通过训练数据获得自适应卡尔曼跟踪器的参数，通过基于双向卡尔曼ASRMAE信道跟踪方法，通过使用前向和后向时刻的测量值来改善信道主成分的跟踪。本发明的有益效果是：跟踪性能大幅提升。
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公开(公告)号：CN118858867A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410829095.1
申请日：2024-06-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种电子元器件的功率循环测试系统及其测试方法，属于电子元器件的性能测试技术领域，为解决现有电子元器件检测过程中功率循环测试技术存在缺陷的问题，它包括：数据采集模块，以设定采样频率实时或定点采集电子元器件的电性能参数；环境模拟模块，模拟电应力条件以实现功率循环；自动控制模块，通过预设测试参数，动态调整电子元器件的运行状态，当电子元器件的实际参数达到预设测试参数范围时，停止测试；数据处理显示模块，用于显示数据采集模块的电性能参数，还用于对定点采集的电性能参数进行数据提取，并对测试过程中电性能参数的数据变化进行显示。用于实现多个电子元器件在不同的测试条件下进行实时检测。
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公开(公告)号：CN114723152A
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202210404985.9
申请日：2022-04-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种场地复合污染治理效果综合评估指标体系的构建方法，包括如下步骤：构建指标体系框架，将指标体系分为目标层、准则层、要素层和指标层；从要素层中初步筛选出若干个评价指标；利用德尔菲法对评价指标进行调整，获得初筛评价指标；利用灰色关联度—粗糙集法、病态指数循环分析‑相关系数法和聚类加因子分析法对初筛评价指标进行筛选，获得优化指标体系；利用优度评价方法对优化指标体系进行优劣性的检验，得到最优指标体系。本发明能够系统化、全面化地对污染场地修复进行全面、科学的评价，从而为构建符合国内区域特性的复合污染场地治理效果综合评估方法，实现场地复合污染治理效果的定量化分析与评估提供依据。
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公开(公告)号：CN110146972A
公开(公告)日：2019-08-20
申请号：CN201910390024.5
申请日：2019-05-10
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京锐驰恒业仪器科技有限公司 , 江苏锐精光电有限公司
IPC: G02B19/00
Abstract: 本发明公开了一种集光器，包括：透镜阵列板、集光孔阵列板、导光槽和侧向集光系统；所述导光槽内设置有集光孔阵列板，所述集光孔阵列板的底部设有一级反射体，所述侧向集光系统设置于所述导光槽一侧，所述透镜阵列板安装于所述导光槽的上方，与所述导光槽形成一体式封闭结构。在本发明中，光线通过透镜阵列板照射入集光孔阵列板，通过所述集光孔阵列板上的反射体对光线逐一反射进行传递，并传递至侧向集光系统，最终本发明可以将所有从透镜阵列板射入的光集成一束，产生了极强的集光效果，且本发明结构简单，降低了制作成本，且减小了集光器的体积，安装也更加方便。
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公开(公告)号：CN109580640A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811497545.2
申请日：2018-12-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明提供一种环形光式暗场共焦亚表面无损检测装置和方法，属于光学精密测量技术领域。点光源发出的光依次经过准直镜、环形光发生器、分光棱镜和物镜，物镜将激光汇聚至待测样品，载有待测样品信息的反射光和散射光依次经过物镜和分光棱镜，入射至探测互补光阑，反射光被探测互补光阑遮挡，散射光依次经过探测互补光阑、收集透镜和探测针孔，最终入射至光电探测器，从而完成对亚表面的检测。本发明采用环形光束照明，结合探测互补光阑实现暗场共焦，解决了普通共焦显微技术检测亚表面损伤信噪比低的问题，适用于亚表面无损检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109470710A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811495808.6
申请日：2018-12-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种基于同轴双圆锥透镜的暗场共焦亚表面检测装置和方法，点光源发出的光经准直镜形成平行光，平行光依次经扩束器、圆锥透镜一和圆锥透镜二形成环形光，环形光经分光棱镜和物镜汇聚至待测样品；待测样品发出的反射光和散射光依次经过物镜和分光棱镜，入射至探测互补光阑，反射光被探测互补光阑遮挡，散射光依次经过探测互补光阑、收集透镜和探测针孔，入射至光电探测器。本发明采用扩束器以及一组对称放置的同轴圆锥透镜实现占空比可调的环形光照明，结合探测互补光阑实现暗场共焦，解决了普通共焦显微技术检测亚表面损伤信噪比低、遮挡式环形光发生器占空比不可调、能量损失大的问题，适用于亚表面无损检测。
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公开(公告)号：CN108020505A
公开(公告)日：2018-05-11
申请号：CN201711240871.0
申请日：2017-11-30
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京锐驰恒业仪器科技有限公司
IPC: G01N21/01
Abstract: 变焦共聚焦光镊显微成像装置和方法，属于光学显微成像与光学操控技术领域。本发明的技术特点是：装置包括：共聚焦照明模块、共聚焦轴向调焦模块、共聚焦扫描模块、共聚焦探测模块和光镊聚焦模块。本发明在常规光镊显微系统中增加由偏振分光镜、四分之一波片、低孔径物镜、管镜和平面反射镜组成的轴向调焦装置，实现共光路光镊共聚焦显微镜中共聚焦焦面的轴向移动，从而抓取悬浮样品实现轴向移动，完成共聚焦三维层析扫描成像。该发明具有装调简单，变焦与轴向层析速度快，观测成本低的优点。
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公开(公告)号：CN106643557A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201710104131.8
申请日：2017-02-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/24
Abstract: 基于共焦显微原理的宏微结合面形测量装置及其测量方法，属于光学精密测量技术领域，本发明为解决现有微观结构的测量方法测量范围有限，无法进行大口径光学元件测量的问题。本发明包括共焦显微模块、直线运动平台模块和旋转运动平台模块，共焦显微三维测量模块包括第一激光器、第一分光棱镜、二维扫描振镜、扫描透镜、管镜、第一物镜、第一收集透镜和第一光电探测器；共焦光学探针模块包括第二激光器、第二分光棱镜、第二物镜、第二收集透镜和第二光电探测器；共焦光学探针模块用于完成宏观结构的三维测量，共焦显微三维测量模块用于完成微观结构的三维测量。本发明用于测量复杂面形的光学元件。
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公开(公告)号：CN103411557B
公开(公告)日：2016-02-03
申请号：CN201310355081.2
申请日：2013-08-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 阵列照明的角谱扫描准共焦环形微结构测量装置与方法属于超精密三维微细结构表面形貌测量领域；该装置设计有角谱扫描照明光路，从同心圆环光源发出的光束依次经过成像透镜、分光棱镜、显微物镜后，平行照射到圆对称被测微结构样品表面；同心圆环光源的不同圆环对应不同的角谱照明；该方法首先获得所有像素在不同角谱扫描照明下的层析图像，然后利用共焦三维测量原理，判断每个像素的轴向坐标，最后拟合出被测微结构样品的三维形貌；这种设计使圆对称被测微结构样品的每一部分都能找到对应的最佳照明角度，避免圆对称被测微结构样品自身表面轮廓的高低起伏导致的某些区域无法照明或者发生复杂反射，提高探测信号强度，降低背景噪声，提高测量精度。
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公开(公告)号：CN103411561A
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN201310355085.0
申请日：2013-08-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于角谱扫描照明的微结构成像装置与方法属于微结构表面形貌成像领域；该装置从激光器发出的光束经过二维扫描振镜反射后，依次经过扫描透镜、第一光阑、成像透镜、分光镜、第二光阑、显微物镜照射到被测微结构样品表面，由被测微结构样品表面漫反射的光束再次经过显微物镜、第二光阑，并由分光镜反射，经管镜聚焦到CCD相机成像；该方法将二维扫描振镜置于不同空间位置，得到多张被测微结构样品图像，并重构被测微结构样品图像；这种设计使被测微结构样品的每一部分都能找到对应的最佳照明角度，避免被测微结构样品自身表面轮廓的高低起伏导致的某些区域无法照明或者发生复杂反射，提高探测信号强度，降低背景噪声，进而提高测量精度。
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