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公开(公告)号：CN104331569A
公开(公告)日：2015-02-04
申请号：CN201410642109.5
申请日：2014-11-13
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法，涉及一种大规模集成电路的小时延故障测试通路选择方法。它是为了解决现有基于贪婪算法对小时延缺陷的测试通路选择方法时间复杂度和空间复杂度过高的问题。本发明所述的基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法，通过使用关键节点选择来优化蚁群优化算法的搜索时间，进而快速选择出小时延缺陷测试通路，使搜索时间减少为原时间的20％至25％。不仅降低了时间复杂度，也降低了空间复杂度。适用于在大规模集成电路小时延故障测试通路的选择。
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公开(公告)号：CN104486222B
公开(公告)日：2017-06-23
申请号：CN201410766047.9
申请日：2014-12-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: H04L12/727
Abstract: 基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法，涉及一种小时延缺陷的测试路径选择方法。它为了解决现有基于贪婪算法对小时延缺陷的测试通路选择方法时间长、速度慢的问题。本发明所述的基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法，首先对测试电路读入分析电路节点连接信息时的算法及存储数据的格式；然后对所要测试电路在读取连接信息的基础上转换为有向无环路图的形式；最后使用蚁群优化算法求解电路网络中的最长通路作为小时延缺陷的关键路径。在保证较高的正确率的前提下，加快了运行速度，以提高路径选择方法在实际应用的实用性。适用于小时延缺陷的测试路径的选择。
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公开(公告)号：CN104331569B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201410642109.5
申请日：2014-11-13
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法，涉及一种大规模集成电路的小时延故障测试通路选择方法。它是为了解决现有基于贪婪算法对小时延缺陷的测试通路选择方法时间复杂度和空间复杂度过高的问题。本发明所述的基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法，通过使用关键节点选择来优化蚁群优化算法的搜索时间，进而快速选择出小时延缺陷测试通路，使搜索时间减少为原时间的20％至25％。不仅降低了时间复杂度，也降低了空间复杂度。适用于在大规模集成电路小时延故障测试通路的选择。
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公开(公告)号：CN104486222A
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201410766047.9
申请日：2014-12-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: H04L12/727
Abstract: 基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法，涉及一种小时延缺陷的测试路径选择方法。它为了解决现有基于贪婪算法对小时延缺陷的测试通路选择方法时间长、速度慢的问题。本发明所述的基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法，首先对测试电路读入分析电路节点连接信息时的算法及存储数据的格式；然后对所要测试电路在读取连接信息的基础上转换为有向无环路图的形式；最后使用蚁群优化算法求解电路网络中的最长通路作为小时延缺陷的关键路径。在保证较高的正确率的前提下，加快了运行速度，以提高路径选择方法在实际应用的实用性。适用于小时延缺陷的测试路径的选择。
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