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公开(公告)号：CN112113666A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN202010895227.2
申请日：2020-08-31
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明是一种基于自适应发射率模型的多光谱测温装置及其测温方法，用于测量高温背景下的物体表面的温度。本发明涉及辐射测温技术领域，本发明提供一种基于自适应发射率模型的多光谱测温装置，所述装置包括高温计、辐射探测器、恒温炉、冷却腔、冷气进入管、冷气出口管、热电偶和热电偶采集卡；本发明为了更准确测量高温环境中物体表面的温度，首先利用BP网络自适应寻找发射率模型，通过预先对网络训练，使网络对于高温背景下辐射光谱数据具有高度的识别度，之后对光谱曲线进行分类进而准确地输出对应地发射率模型。确定发射率模型后，对求解温度的遗传算法进行了一定的改进。最终整套测温方法在测量高温环境中物体的温度上表现出了良好的性能。
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公开(公告)号：CN110207831A
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201910504235.7
申请日：2019-06-12
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明公开了高温高压气体介质中的辐射高温计测温结果修正方法，属于温度测量技术领域，包括以下步骤：(1)非标况气体线强修正；(2)单谱线辐射特性及谱线选择；(3)线翼截断计算；(4)气体吸收系数计算；(5)有效波长计算；(6)测量结果修正。在辐射测温时，当测量光路处于不同气体内，根据所选择的不同光谱进行修正，测量目标温度与气体温度和压强有一定关联时，通过测量结果对气体温度压强进行修正，迭代计算进一步减小测量误差；根据κ分布的思想，小谱带范围内，可以认为普朗克函数是不发生变化的，重新排列谱线，很大程序上减少了计算时间；在有效波长的计算方法上提出分段拟合的方法，通过维恩公式使得断点处过渡平滑。
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公开(公告)号：CN112113666B
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN202010895227.2
申请日：2020-08-31
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明是一种基于自适应发射率模型的多光谱测温装置及其测温方法，用于测量高温背景下的物体表面的温度。本发明涉及辐射测温技术领域，本发明提供一种基于自适应发射率模型的多光谱测温装置，所述装置包括高温计、辐射探测器、恒温炉、冷却腔、冷气进入管、冷气出口管、热电偶和热电偶采集卡；本发明为了更准确测量高温环境中物体表面的温度，首先利用BP网络自适应寻找发射率模型，通过预先对网络训练，使网络对于高温背景下辐射光谱数据具有高度的识别度，之后对光谱曲线进行分类进而准确地输出对应地发射率模型。确定发射率模型后，对求解温度的遗传算法进行了一定的改进。最终整套测温方法在测量高温环境中物体的温度上表现出了良好的性能。
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公开(公告)号：CN110207831B
公开(公告)日：2021-07-27
申请号：CN201910504235.7
申请日：2019-06-12
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明公开了高温高压气体介质中的辐射高温计测温结果修正方法，属于温度测量技术领域，包括以下步骤：(1)非标况气体线强修正；(2)单谱线辐射特性及谱线选择；(3)线翼截断计算；(4)气体吸收系数计算；(5)有效波长计算；(6)测量结果修正。在辐射测温时，当测量光路处于不同气体内，根据所选择的不同光谱进行修正，测量目标温度与气体温度和压强有一定关联时，通过测量结果对气体温度压强进行修正，迭代计算进一步减小测量误差；根据κ分布的思想，小谱带范围内，可以认为普朗克函数是不发生变化的，重新排列谱线，很大程序上减少了计算时间；在有效波长的计算方法上提出分段拟合的方法，通过维恩公式使得断点处过渡平滑。
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