公开(公告)号：CN119509373A

公开(公告)日：2025-02-25

申请号：CN202411565505.2

申请日：2024-11-05

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 田沛佳 ,  刘鹏 ,  张和煦 ,  刘颀 ,  卢曦 ,  朱正

IPC: G01B11/02

Abstract: 本发明公开了一种扫描式光纤位移传感器的扫描方法，属于光纤位移传感器的技术领域；S1：建立扫描平台；S2：确定扫描面和扫描面的面积，扫描光路通过音圈电机中的透镜输出激光照射在待扫描物体上，在待扫描的物体上发生漫反射，扫描平台接收待测量物体反射的信息光后，使用音圈电机移动激光到下一位置，对待测量物体的扫描面进行扫描；S3：扫描过程中，借助扫描面反射回来的光功率和扫描平台发射的光功率，计算获取待测量物体的位移信息d。本发明采用上述方法，将现有的点式光纤位移传感器改进为扫描式的光纤位移传感器，通过面式扫描比单点扫面更加准确，且能衡量到物体在方向上的改变。

公开(公告)号：CN119757354A

公开(公告)日：2025-04-04

申请号：CN202411818377.8

申请日：2024-12-11

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 朱正 ,  许若辰 ,  李泽民 ,  刘松泽 ,  刘颀 ,  卢曦 ,  张和煦 ,  郭聪 ,  张杨

IPC: G01N21/88 ,  G01N21/01 ,  G06V10/82 ,  G06V10/774 ,  G06V10/764 ,  G06T7/00 ,  G06T7/90 ,  G06T5/70

Abstract: 本发明公开了一种基于图像处理和分级分类器的陶瓷釉面检测方法及系统，涉及数据处理与分析技术领域；S1、通过彩色线阵CCD传感器对陶瓷釉面表面逐行扫描，采集高分辨率的RGB图像数据；S2、对上述步骤S1采集到的图像数据进行预处理，识别潜在瑕疵区域；S3、对S2识别的潜在瑕疵区域进行初步分类，筛选疑似瑕疵区域；S4、对步骤S3输出的疑似瑕疵区域进行精细分类；S5、根据分类结果，通过自动标记装置对瑕疵区域进行实时标记；S6、通过以太网将检测结果传输至上位机进行实时显示与记录；本发明采用上述基于图像处理和分级分类器的陶瓷釉面检测方法及系统，有助于提高陶瓷生产质量和生产过程控制中的工作效率和精度。

公开(公告)号：CN119340776A

公开(公告)日：2025-01-21

申请号：CN202411478054.9

申请日：2024-10-22

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 裴雅鹏 ,  李泽民 ,  陈茂森 ,  周镕鑫 ,  钱俊宇 ,  张和煦 ,  郭聪 ,  许若辰 ,  张杨 ,  杨军

IPC: H01S3/10 ,  H01S3/09

Abstract: 本发明公开了一种高频可控的种子光泵浦放大驱动器及驱动电路，包括交互式触控显示模块，用于与驱动器进行交互操作；数控恒流模块，用于产生驱动电流；脉冲调制模块，用于实现高频可控，分辨率高的脉冲调制；数控兼容模块，用于实现兼容不同型号的放大器；电源模块，用于给整个驱动系统供电；温控模块，用于调节放大器的工作温度；外置驱动接口，用于连接待带驱动的放大器；主控芯片，用分别对数控恒流模块、脉冲调制模块、数控兼容模块和温控模块进行控制。本发明采用上述的一种高频可控的种子光泵浦放大驱动器及驱动电路，可以解决高频调制时，驱动电流不稳定的问题，同时通过数控方式兼容不同种类的种子光泵浦放大器实现稳定放大。