一种RTD测量模块的出厂校准系统及方法

    公开(公告)号:CN117309194A

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN202311437023.4

    申请日:2023-10-31

    Abstract: 本发明公开了一种RTD测量模块的出厂校准系统及方法,包括:出厂校准模块和待校准的RTD测量模块;出厂校准模块至少包括:第一校准电阻、第二校准电阻、第一模拟开关、第二模拟开关、第三模拟开关和MCU单元;所述第一模拟开关与第一校准电阻串联,所述第二模拟开关与第二校准电阻串联,且第三模拟开关、串联的第一模拟开关和第一校准电阻、串联的第二模拟开关和第二校准电阻相互并联;待校准的RTD测量模块至少包括:校准参考电阻RREF、MCU单元、PGA、ADC、EEPROM、第一恒流源和第二恒流源;出厂校准模块中的MCU单元和出厂校准模块中的MCU单元配合,实现线性拟合和双恒流源匹配度校准。

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