-
公开(公告)号:CN102944831A
公开(公告)日:2013-02-27
申请号:CN201210477147.0
申请日:2012-11-22
Applicant: 复旦大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明属于自动化测试测量技术领域,具体为一种基于FPGA实现的应用于自动化测试中扩展输入输出通道的方法。本发明在测试平台和待测芯片之间加入FPGA,将测试平台的生成采集通道与待测芯片的输入输出引脚连接到FPGA的输入输出引脚;对FPGA中每一个与待测芯片引脚相连的输入输出引脚做适当配置,将各个引脚配置模块中TDO与TDI首尾相连,构建出多条并行的测试链。其中,测试平台的负责生成数据的通道与FPGA中实现的TDI端口相连,负责采集数据的通道与FPGA中实现TDO端口相连;本发明解决了动态更改通道属性的问题,简化了软件上的层次,同时减少了用于配置管脚寄存器数据的周期数,节约了测试时间。
-
公开(公告)号:CN102944831B
公开(公告)日:2015-05-13
申请号:CN201210477147.0
申请日:2012-11-22
Applicant: 复旦大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明属于自动化测试测量技术领域,具体为一种基于FPGA实现的应用于自动化测试中扩展输入输出通道的方法。本发明在测试平台和待测芯片之间加入FPGA,将测试平台的生成采集通道与待测芯片的输入输出引脚连接到FPGA的输入输出引脚;对FPGA中每一个与待测芯片引脚相连的输入输出引脚做适当配置,将各个引脚配置模块中TDO与TDI首尾相连,构建出多条并行的测试链。其中,测试平台的负责生成数据的通道与FPGA中实现的TDI端口相连,负责采集数据的通道与FPGA中实现TDO 端口相连;本发明解决了动态更改通道属性的问题,简化了软件上的层次,同时减少了用于配置管脚寄存器数据的周期数,节约了测试时间。
-