一种用于探测光强度的多层膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN103078059A

    公开(公告)日:2013-05-01

    申请号:CN201310034539.4

    申请日:2013-01-29

    CPC classification number: Y02E10/549 Y02P70/521

    Abstract: 本发明公开了一种用于探测光强度的多层膜,其特征在于:在ITO玻璃基底层上设有有机薄膜层Ⅰ,所述有机薄膜层Ⅰ上设有有机薄膜层Ⅱ,在所述有机薄膜层Ⅱ上设有金属薄膜电极。本发明还公开了该多层膜的制备方法。本发明以ITO透明电极代替传统的金属薄膜电极,有效地提高了入射光的透射率,以有机薄膜层为核心层,采用真空蒸镀的方法来制备多层膜,制备工艺简洁,得到的多层膜在光强度探测上有广泛的应用。

    一种用于探测光强度的多层膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN103078059B

    公开(公告)日:2016-01-06

    申请号:CN201310034539.4

    申请日:2013-01-29

    CPC classification number: Y02E10/549 Y02P70/521

    Abstract: 本发明公开了一种用于探测光强度的多层膜,其特征在于:在ITO玻璃基底层上设有有机薄膜层Ⅰ,所述有机薄膜层Ⅰ上设有有机薄膜层Ⅱ,在所述有机薄膜层Ⅱ上设有金属薄膜电极。本发明还公开了该多层膜的制备方法。本发明以ITO透明电极代替传统的金属薄膜电极,有效地提高了入射光的透射率,以有机薄膜层为核心层,采用真空蒸镀的方法来制备多层膜,制备工艺简洁,得到的多层膜在光强度探测上有广泛的应用。

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