公开(公告)号：CN104142317B

公开(公告)日：2019-06-07

申请号：CN201410138075.6

申请日：2014-04-08

Applicant: 安捷伦科技有限公司

Inventor： Y.C.蔡 ,  T.H.李 ,  I.L.钟 ,  W.-Y.李

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01J3/0291 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/274 ,  G01N21/645 ,  G01N21/6452 ,  G01N21/6486 ,  G01N21/93 ,  G01N2035/00326

Abstract: 本公开涉及一种用于对多孔孔板执行荧光测量的荧光测量系统，以及自包含的多通道光学盒。荧光测量系统包括主机装置和自包含的、多通道光学盒。所述主机装置包括孔板容座，以及具有沿所述孔板的一个轴伸长的光学盒容座的台。所述台和所述孔板容座相对于彼此在所述孔板的另一轴的方向上是可移动的。所述光学盒与所述光学盒容座接合，并且包括光学组件的线性阵列，所述光学组件中的每一个包括激发光源，以及生成强度信号的发射光检测器。所述光学盒还包括存储每一个光学组件的校准信息的存储器。所述主机装置还包括使用从所述光学组件的光学盒接收到的校准信息来校正来自所述光学盒的每一个光学组件的强度信号的处理器。

公开(公告)号：CN104142317A

公开(公告)日：2014-11-12

申请号：CN201410138075.6

申请日：2014-04-08

Applicant: 安捷伦科技有限公司

Inventor： Y.C.蔡 ,  T.H.李 ,  I.L.钟 ,  W.-Y.李

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01J3/0291 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/274 ,  G01N21/645 ,  G01N21/6452 ,  G01N21/6486 ,  G01N21/93 ,  G01N2035/00326

Abstract: 本公开涉及一种用于对多孔孔板执行荧光测量的荧光测量系统，以及自包含的多通道光学盒。荧光测量系统包括主机装置和自包含的、多通道光学盒。所述主机装置包括孔板容座，以及具有沿所述孔板的一个轴伸长的光学盒容座的台。所述台和所述孔板容座相对于彼此在所述孔板的另一轴的方向上是可移动的。所述光学盒与所述光学盒容座接合，并且包括光学组件的线性阵列，所述光学组件中的每一个包括激发光源，以及生成强度信号的发射光检测器。所述光学盒还包括存储每一个光学组件的校准信息的存储器。所述主机装置还包括使用从所述光学组件的光学盒接收到的校准信息来校正来自所述光学盒的每一个光学组件的强度信号的处理器。