具有磁阻电极的测量装置及其测量方法

    公开(公告)号:CN1454308A

    公开(公告)日:2003-11-05

    申请号:CN00819856.X

    申请日:2000-06-27

    Inventor: P·乔尔迪尔

    CPC classification number: G01D5/145 G01B3/205 G01B7/02

    Abstract: 本发明涉及用于尺寸测量装置并具有磁阻电极(100)的电子电路(3),包括提供至少一个电源电压(UP、UN)的供电电路(42),电源电压用于给磁阻电极(100)系统及连接到该系统的包括两个差分输入(C、C’、S、S’)的测量电路(30-39)供电。测量电路采用一个粗略计数器和一个精密插入电路,根据接收到的两种正弦波输入信号,确定传感器沿标尺的位置。电源电路(42)周期性地接收供给的电源电压,从而在磁阻电极(100)中暂时降低能耗。

    一种测量纵向尺寸的测量柱

    公开(公告)号:CN1424555A

    公开(公告)日:2003-06-18

    申请号:CN02156148.6

    申请日:2002-12-11

    CPC classification number: G01B3/008 G01B5/061

    Abstract: 一种测量纵向尺寸的测量柱(1),包括支撑框架(2),可沿设置在支撑框架上的测量轴(Z)移动的滑动架(3),连接到所述滑动架的探测头(44),其设计成可以与进行测量的工件接触;滑动架的电动驱动机构,包括缆绳或传动带(40)和驱动马达(5),可带动所述滑动架沿所述测量轴移动;测量所述滑动架(3)沿所述测量轴的位置的系统。驱动马达通过减速齿轮和摩擦组件驱动上驱动滑轮。马达、减速齿轮和摩擦组件整体安装在滑轮内部。测量柱的优点是节省空间,零部件数目少,减少了传动带施加给滑动架的拘束。

    一种测量纵向尺寸的测量柱

    公开(公告)号:CN1424556A

    公开(公告)日:2003-06-18

    申请号:CN02156152.4

    申请日:2002-12-12

    CPC classification number: G01B5/061

    Abstract: 一种测量纵向尺寸的测量柱(1),包括支撑框架(2),可沿设置在支撑框架上的测量轴(Z)移动的滑动架(3),连接到所述滑动架的探测头(44),其设计成可以与进行测量的工件接触;滑动架的驱动机构,包括缆绳或传动带(40),可带动所述滑动架沿所述测量轴移动;测量所述滑动架(3)沿所述测量轴位置的系统。一框架以铰接的方式连接到滑动架。缆绳或传动带连接到该框架。该框架和滑动架之间的铰接件可允许沿平行于所述滑动架平面的枢轴(x)作至少一个枢轴转动。这种测量柱的优点是缆绳或传动带施加的力或力矩不直接作用在滑动架。沿测量轴以外的轴上的力可被该框架吸收。

    用于测量纵向尺寸的测量柱

    公开(公告)号:CN1424557A

    公开(公告)日:2003-06-18

    申请号:CN02156150.8

    申请日:2002-12-11

    CPC classification number: G01B5/061

    Abstract: 一种用于测量纵向尺寸的测量柱(1),包括:支撑架(2),可沿支撑架在测量轴线(Z)的方向上移动的支架(3),可使所述支架沿所述测量轴线移动的缆索或皮带(40),与所述缆索或皮带相连以沿与支架相反的方向运动的配重,以及用于限制配重的运动的导向面。在所述配重和所述导向面之间设有1毫米的间隙。此间隙能充分地避免在所述配重垂直移动时所述配重和任何导向面之间的任何接触。

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