样本分析装置、样本分析方法和试剂容器支架

    公开(公告)号:CN113391081A

    公开(公告)日:2021-09-14

    申请号:CN202110901184.9

    申请日:2016-12-15

    Abstract: 一种样本分析装置,包括:试剂容器支架,包括用于安放收纳有试剂的试剂容器的试剂容器安放部件和用于改变所述试剂容器安放部件所安放的所述试剂容器的倾斜程度的倾斜程度变更部件;试剂分装部件,用于分装所述试剂容器安放部件安放的试剂容器内收纳的试剂;检测部件,从包括样本和所述试剂分装部件所分装的试剂的测定用试样中检测出用于分析的信号;控制部件,基于所述检测部件检测出的信号进行所述样本的分析;所述倾斜程度变更部件能使所述试剂容器安放部件移动到第一位置和第二位置,所述第一位置用于从试剂容器吸移试剂,所述第二位置用于以试剂容器比位于所述第一位置的所述试剂容器安放部件所安放的试剂容器倾斜的状态从试剂容器吸移试剂。

    样本分析装置、样本分析方法和试剂容器支架

    公开(公告)号:CN107037223B

    公开(公告)日:2021-08-27

    申请号:CN201611161711.2

    申请日:2016-12-15

    Abstract: 一种样本分析装置,包括:试剂容器支架,其具有用于安放收纳有试剂的试剂容器的试剂容器安放部件、以及用于改变所述试剂容器安放部件的倾斜程度的倾斜程度变更部件;试剂分装部件,其用于分装所述试剂容器安放部件安放的所述试剂容器内收纳的试剂;检测部件,其从包括样本和所述试剂分装部件所分装的试剂的测定用试样中检测出用于分析的信号;控制部件,其基于所述检测部件检测出的信号进行所述样本的分析。

    试剂容器架及样本分析装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110967520A

    公开(公告)日:2020-04-07

    申请号:CN201910934171.4

    申请日:2019-09-27

    Inventor: 藤井卓也

    Abstract: 本发明能够有效抑制开封后的试剂容器放置于样本分析装置这一状态下试剂的蒸发,有效抑制更换为其他试剂容器时试剂污染的可能性。本发明的试剂容器架(100)是一种供使用试剂对样本进行分析的样本分析装置(200)使用的试剂容器架(100),包括:将收纳试剂的试剂容器(90)安放的安放部(10)、覆盖口部(91)并与试剂容器(90)的口部(91)之间形成密闭空间(CS)的盖部(20)。

    样本分析装置
    5.
    实用新型

    公开(公告)号:CN211402404U

    公开(公告)日:2020-09-01

    申请号:CN201921618178.7

    申请日:2019-09-26

    Abstract: 本实用新型为了轻松地维护珀尔帖单元。其提供一种样本分析装置(1),具备:对试剂台(130)进行冷却的珀尔帖元件(41)、放出珀尔帖元件(41)吸收的热的散热片(42)、对散热片(42)进行冷却的散热风扇(43)、将散热风扇(43)暂时固定于散热片(42)的第一固定部(401)、将散热风扇(43)正式固定于散热片(42)的第二固定部(402)。

Patent Agency Ranking