公开(公告)号：CN101097223B

公开(公告)日：2012-08-29

申请号：CN200710123207.8

申请日：2007-06-29

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 喜多川信宏 ,  金子周平 ,  藤田教蔵

IPC: G01N35/00

CPC classification number: G01N35/00584 ,  B01L2200/143 ,  B01L2200/16 ,  B01L2300/0803 ,  G01N35/00663 ,  G01N35/0092 ,  G01N35/025 ,  G01N35/026 ,  G01N35/1002 ,  G01N2035/00673 ,  G01N2035/00891 ,  G01N2035/0091 ,  Y10T436/11 ,  Y10T436/111666

Abstract: 本发明提供一种可限制仪器整体大型化和仪器控制复杂化的试样分析仪。试样分析仪1包括：能够环形配置复数个装有试剂的试剂管并可旋转移动的第一试剂台11；与所述第一试剂台11同心圆设置并可环形配置复数个装有试剂的试剂管且能旋转移动的第二试剂台12；将置于所述第一试剂台11和所述第二试剂台12的试剂管中的试剂分装至装有试样的容器内的试剂分装臂130，控制器501控制试剂分装臂130，使其在接到更换或追加配置于所述第一试剂台11的试剂容器中的试剂的指示时等待分装所述第一试剂台11试剂容器中的试剂，而分装第二试剂台12试剂容器中的试剂。

公开(公告)号：CN101097222A

公开(公告)日：2008-01-02

申请号：CN200710123206.3

申请日：2007-06-29

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 喜多川信宏 ,  金子周平 ,  藤田教蔵

IPC: G01N35/00

Abstract: 一种用于分析试样的试样分析仪，包括；具有复数个用于配置装有试剂的试剂管的配置区域并可移动该配置区域的配置装置；分析经试样和试剂混合制备的测定试样的分析装置；接受使用者从所述复数个配置区域中对配置区域的指定以更换或追加所述试剂的指定接受装置；以及当所述配置区域被指定时可控制所述配置装置使指定的配置区域移至可更换或追加试剂管的更换追加位置的控制装置。

公开(公告)号：CN103364572A

公开(公告)日：2013-10-23

申请号：CN201310105986.4

申请日：2013-03-29

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 藤田教蔵

IPC: G01N35/00 ,  G06K17/00

CPC classification number: G01N33/5005 ,  G01N35/00623 ,  G01N2035/00653 ,  G01N2035/00782

Abstract: 提供一种被检物分析装置，可以减少用户的麻烦，且在被检物分析装置之间比较精度管理用样品的分析结果。该被检物分析装置包括：被检物分析部，分析被检物；读写部，从附着于收存了精度管理用样品的容器的存储介质读出信息；显示部；以及控制部，在由其它被检物分析装置分析得到的分析结果被存储于上述存储介质时，使上述显示部显示通过由其它被检物分析装置分析上述精度管理用样品而得到并由上述读写部从上述存储介质读出的分析结果、和上述精度管理用样品的由上述被检物分析部得到的分析结果。由此，可以容易地掌握与其它被检物分析装置的精度管理用样品的分析结果的偏差。

公开(公告)号：CN101097223A

公开(公告)日：2008-01-02

申请号：CN200710123207.8

申请日：2007-06-29

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 喜多川信宏 ,  金子周平 ,  藤田教蔵

IPC: G01N35/00

CPC classification number: G01N35/00584 ,  B01L2200/143 ,  B01L2200/16 ,  B01L2300/0803 ,  G01N35/00663 ,  G01N35/0092 ,  G01N35/025 ,  G01N35/026 ,  G01N35/1002 ,  G01N2035/00673 ,  G01N2035/00891 ,  G01N2035/0091 ,  Y10T436/11 ,  Y10T436/111666

Abstract: 本发明提供一种可限制仪器整体大型化和仪器控制复杂化的试样分析仪。试样分析仪1包括：能够环形配置复数个装有试剂的试剂管并可旋转移动的第一试剂台11；与所述第一试剂台11同心圆设置并可环形配置复数个装有试剂的试剂管且能旋转移动的第二试剂台12；将置于所述第一试剂台11和所述第二试剂台12的试剂管中的试剂分装至装有试样的容器内的试剂分装臂130，控制器501控制试剂分装臂130，使其在接到更换或追加配置于所述第一试剂台11的试剂容器中的试剂的指示时等待分装所述第一试剂台11试剂容器中的试剂，而分装第二试剂台12试剂容器中的试剂。

公开(公告)号：CN103364572B

公开(公告)日：2015-05-27

申请号：CN201310105986.4

申请日：2013-03-29

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 藤田教蔵

IPC: G01N35/00 ,  G06K17/00

CPC classification number: G01N33/5005 ,  G01N35/00623 ,  G01N2035/00653 ,  G01N2035/00782

Abstract: 提供一种被检物分析装置，可以减少用户的麻烦，且在被检物分析装置之间比较精度管理用样品的分析结果。该被检物分析装置包括：被检物分析部，分析被检物；读写部，从附着于收存了精度管理用样品的容器的存储介质读出信息；显示部；以及控制部，在由其它被检物分析装置分析得到的分析结果被存储于上述存储介质时，使上述显示部显示通过由其它被检物分析装置分析上述精度管理用样品而得到并由上述读写部从上述存储介质读出的分析结果、和上述精度管理用样品的由上述被检物分析部得到的分析结果。由此，可以容易地掌握与其它被检物分析装置的精度管理用样品的分析结果的偏差。

公开(公告)号：CN101097222B

公开(公告)日：2012-08-29

申请号：CN200710123206.3

申请日：2007-06-29

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 喜多川信宏 ,  金子周平 ,  藤田教蔵

IPC: G01N35/00

Abstract: 一种用于分析试样的试样分析仪，包括；具有复数个用于配置装有试剂的试剂管的配置区域并可移动该配置区域的配置装置；分析经试样和试剂混合制备的测定试样的分析装置；接受使用者从所述复数个配置区域中对配置区域的指定以更换或追加所述试剂的指定接受装置；以及当所述配置区域被指定时可控制所述配置装置使指定的配置区域移至可更换或追加试剂管的更换追加位置的控制装置。